[实用新型]一种芯片测试装置有效
| 申请号： | 201720931259.7 | 申请日： | 2017-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN207081752U | 公开（公告）日： | 2018-03-09 |
| 发明（设计）人： | 刘净月;庞明奇;赵鹏;刘路扬;陈波;杨景阳 | 申请（专利权）人： | 航天科工防御技术研究试验中心 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京风雅颂专利代理有限公司11403 | 代理人： | 张拥 |
| 地址： | 100085*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种芯片测试装置，包括测试插座和控制盒；测试插座包括芯片测试座和芯片测试盖，芯片测试盖包括壳体和旋钮，旋钮下端设有第一接触点，壳体上设有与所述第一接触点相对应的第二接触点，第一接触点和第二接触点接触时，触发控制盒的启动；控制盒内设置有单片机、继电器和上位机，单片机与继电器电连接，用于控制所述继电器的闭合，继电器与所述上位机电连接，用于启动所述上位机。与现有技术中芯片的测试过程比较，本实用新型的芯片测试装置省略了人力手工点击上位机鼠标去触发测试程序开始按钮的过程，当待测芯片安置完成后，自动实现一次测试。在大规模芯片的测试作业中，有助于提高工作和生产效率，实用性非常强。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种芯片测试装置，其特征在于，包括测试插座和控制盒；所述测试插座包括芯片测试座和芯片测试盖，所述芯片测试盖包括壳体和旋钮，所述旋钮下端设有第一接触点，所述壳体上设有与所述第一接触点相对应的第二接触点，所述第一接触点和所述第二接触点接触时，触发控制盒的启动；所述控制盒内设置有单片机、继电器和上位机，所述单片机与所述继电器电连接，用于控制所述继电器的闭合，所述继电器与所述上位机电连接，用于启动所述上位机的测试程序。
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