[实用新型]一种芯片测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别是指一种芯片测试装置。

背景技术

随着科学技术的发展，电子芯片已经广泛应用于各种电子产品中。在完成芯片大批量生产后，需要对芯片的合理性进行检测，以此来挑选出不合格的芯片，而保留合格的芯片。随着集成电路规模的增大，简化目前芯片的测试过程能够极大的提高生产效率。目前，基于现有的芯片的测试过程是先将待测芯片安装在测试板的测试插座上，然后拧紧旋钮，最后鼠标点击上位机测试程序的开始按钮，开始一次测试。此过程相对繁琐，极大影响生产效率。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的目的在于提出一种芯片测试装置，该装置可以简化目前芯片的测试过程，先将待测芯片安装在测试板的测试插座上，在拧紧插座旋钮的同时即可触发上位机的测试程序开始按钮，开始一次测试。

基于上述目的，本实用新型提供的一种芯片测试装置，包括测试插座和控制盒；所述测试插座包括芯片测试座和芯片测试盖，所述芯片测试盖包括壳体和旋钮，所述旋钮下端设有第一接触点，所述壳体上设有与所述第一接触点相对应的第二接触点，所述第一接触点和所述第二接触点接触时，触发控制盒的启动；所述控制盒内设置有单片机、继电器和上位机，所述单片机与所述继电器电连接，用于控制所述继电器的闭合，所述继电器与所述上位机电连接，用于启动所述上位机的测试程序。

本实用新型中，控制盒能够控制上位机的测试程序开始按钮，同时令测试插座旋钮作为该控制盒的触发开关。即，将待测芯片放置在测试插座上，拧紧旋钮的同时会启动控制盒内单片机的启动，单片机上电之后控制继电器闭合去启动上位机测试程序。

优选的，所述单片机上设有上电开关，所述第一接触点与所述上电开关的第一极相连，所述第二接触点与所述上电开关的第二极相连，旋钮锁紧待测芯片和测试插座时，所述第一接触点和所述第二接触点接触，使上电开关闭合，触发单片机的启动。

优选的，所述旋钮的下端固定连接有螺纹管，所述壳体中间设置有中空部，所述中空部的内壁上设置有内螺纹，所述螺纹管与所述中空部的内螺纹相配合。

优选的，所述第一接触点为动触点，所述第二接触点为静触点。

在本实用新型中，动触点与单片机的上电开关的第一极相连，静触点与单片机的上电开关的第二极相连，动触点设置在旋钮的下端，静触点设置在壳体上，旋转旋钮的过程中，动触点会逐渐与壳体上的静触点接近，当拧紧旋钮后，动触点与静触点接触，启动单片机的上电开关，从而触发单片机的启动，之后控制继电器闭合去启动上位机的测试程序。

优选的，所述旋钮的下端设有主杆，所述主杆和所述第一接触点之间设置有弹性缓冲部件。

较佳的，所述弹性缓冲部件为弹性缓冲垫层。

在本实用新型中，不同类型的芯片厚度不同，芯片厚度的不同决定了旋钮拧紧程度不同，从而决定了第一接触点对第二接触点向下作用力不同，为了防止第一接触点对第二接触点向下作用力过大，对第二触点造成损害，第一接触点的上方设置有缓冲部件，用于缓冲第一接触点对第二接触点向下的作用力。

优选的，所述主杆内设有伸缩杆，所述伸缩杆滑动连接在所述主杆内，所述伸缩杆外端设有第一接触点。

在本实用新型中，主杆内设有伸缩杆，可以适应不同厚度的待测芯片。

优选的，所述单片机为AT89C51单片机。

优选的，所述芯片测试盖外侧的一边活动连接有钩扣，所述芯片测试座的一边设置有和所述钩扣相卡合的卡口。当芯片测试盖和芯片测试座合上后，钩扣就能钩住卡口。

优选的，所述芯片测试座的另一边设置有两垂直的支撑块，该边与设置有所述卡口的一边相对。支撑块上设置有铰链轴，这样芯片测试盖就可以灵活的打开或合上了。

优选的，所述壳体下侧设置有压板，所述压块下端的中间位置设置有凸块，所述芯片测试座上设有容纳所述凸块的通腔。当芯片测试座和芯片测试盖合上后，凸块就容纳在通腔内，压紧待测芯片。

从上面所述可以看出，本实用新型提供的一种芯片测试装置，与现有技术中芯片的测试过程比较，省略了人力手工点击上位机鼠标去触发测试程序开始按钮的过程，当待测芯片安置完成后，自动实现一次测试。在大规模芯片的测试作业中，有助于提高工作和生产效率，实用性非常强。

附图说明

图1为本实用新型实施例的芯片测试装置的原理图；

图2为本实用新型实施例的第一接触点、第二接触点与单片机的上电开关的电连接示意图；

图3为本实用新型实施例的测试插座的整体结构示意图；