[实用新型]微波测试系统及监控系统有效

专利信息
申请号: 201720707182.5 申请日: 2017-06-16
公开(公告)号: CN207067265U 公开(公告)日: 2018-03-02
发明(设计)人: 张全伟;梁铁生;张少林;孙昌盛 申请(专利权)人: 深圳市威富通讯技术有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)11371 代理人: 徐彦圣
地址: 518000 广东省深圳市宝安*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型提供了一种微波测试系统及监控系统,涉及自动化测试领域。该微波测试系统的微波测试设备分别与控制主机和阵列开关耦合,单片机控制电路分别与控制主机和阵列开关耦合,阵列开关用于与待测试器件耦合。阵列开关为M×N端口器件,其中,M<N,M、N为正整数,阵列开关包括依次耦合的多个子开关,多个子开关中的每个子开关分别与单片机控制电路耦合,控制主机用于发送附带待测试器件端口的信号给单片机控制电路,单片机控制电路用于根据该信号控制每个子开关的连通或断开,微波测试设备用于获取待测试器件的测试端口的测试数据并发送给控制主机。本实用新型能够以机器代替人进行测试,提高测试速率、可靠性以及稳定性。
搜索关键词: 微波 测试 系统 监控
【主权项】:
一种微波测试系统,其特征在于,包括控制主机、微波测试设备、单片机控制电路以及阵列开关,所述微波测试设备分别与所述控制主机和所述阵列开关耦合,所述单片机控制电路分别与所述控制主机和所述阵列开关耦合,所述阵列开关用于与待测试器件耦合;所述阵列开关为M×N端口器件,其中,M<N,M、N为正整数;所述阵列开关包括依次耦合的多个子开关,所述多个子开关中的每个子开关分别与所述单片机控制电路耦合;所述控制主机用于发送附带所述待测试器件的测试端口的信号给所述单片机控制电路;所述单片机控制电路用于根据所述信号控制所述每个子开关的连通或断开,以使用于与所述待测试器件的测试端口耦合的子开关连通;所述微波测试设备用于获取所述待测试器件的测试端口的测试数据,将所述测试数据发送给所述控制主机。
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