[实用新型]微波测试系统及监控系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及自动化测试领域，具体而言，涉及一种微波测试系统及监控领域。

背景技术

微波测量是滤波器、双工器等微波器件生产过程中的重要过程。微波无源多端口器件的检测，厂商要安排大量的人力和网络仪来检验产品的合格性，有些多端口器件端口多达十几个，电检员在检验时要频繁地换线，并且要使用不同的接口连接待测器件。费时且影响测试的正确性和稳定性。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种微波测试系统及监控领域，其能够以机器代替人进行测试，提高测试速率、可靠性以及稳定性。

本实用新型的实施例是这样实现的：

第一方面，本实用新型实施例提供了一种微波测试系统，器包括控制主机、微波测试设备、单片机控制电路以及阵列开关，所述微波测试设备分别与所述控制主机和所述阵列开关耦合，所述单片机控制电路分别与所述控制主机和所述阵列开关耦合，所述阵列开关用于与待测试器件耦合；所述阵列开关为M×N端口器件，其中，M＜N，M、N为正整数；所述阵列开关包括依次耦合的多个子开关，所述多个子开关中的每个子开关分别与所述单片机控制电路耦合；所述控制主机用于发送附带所述待测试器件的测试端口的信号给所述单片机控制电路；所述单片机控制电路用于根据所述信号控制所述每个子开关的连通或断开，以使用于与所述待测试器件的测试端口耦合的子开关连通；所述微波测试设备用于获取所述待测试器件的测试端口的测试数据，将所述测试数据发送给所述控制主机。

在本实用新型较佳的实施例中，上述多个子开关包括多个一级子开关、多个二级子开关以及多个三级子开关，所述多个一级子开关与所述微波测试设备耦合，所述多个三级子开关用于一一与所述待测试器件的测试端口耦合，所述多个二级子开关中的一个所述二级子开关分别与所述多个一级子开关中的一个所述一级子开关和所述多个三级子开关中的至少一个所述三级子开关耦合。

在本实用新型较佳的实施例中，上述每个子开关设置有主路端口和分路端口，所述多个一级子开关的主路端口与所述微波测试设备耦合，所述多个三级子开关的分路端口用于一一与所述待测试器件的测试端口耦合，所述多个二级子开关中的一个所述二级子开关的主路端口与所述多个一级子开关中的一个所述一级子开关的分路端口耦合，所述多个二级子开关中的一个所述二级子开关的分路端口与所述多个三级子开关中的至少一个所述三级子开关的主路端口耦合。

在本实用新型较佳的实施例中，上述一级子开关为1×2端口器件，所述二级子开关为1×4端口器件，所述三级子开关为2×2端口器件。

在本实用新型较佳的实施例中，上述一级子开关为2个，所述二级子开关为4个，所述三级子开关为8个。

在本实用新型较佳的实施例中，上述单片机控制电路设置有多个控制按键，所述控制按键用于调控所述单片机控制电路的工作状态。

在本实用新型较佳的实施例中，上述控制按键包括开始按键、暂停按键、切换按键以及结束按键。

在本实用新型较佳的实施例中，上述微波测试设备为矢量网络分析仪。

在本实用新型较佳的实施例中，上述控制主机为PC端。

第二方面，本实用新型实施例提供了一种监控系统，其包括移动终端和上述微波测试系统，所述移动终端与所述控制主机通信连接，所述移动终端用于远程监控所述微波测试系统的测试数据。

本实用新型实施例提供的微波测试系统及监控系统，其包括控制主机、微波测试设备、单片机控制电路以及阵列开关，该微波测试设备分别与控制主机和阵列开关耦合，阵列开关用于与待测试器件耦合，其中，阵列开关为M×N端口器件，M＜N，M、N为正整数，阵列开关包括依次耦合的多个子开关，多个子开关中的每个子开关分别与单片机控制电路耦合，通过使控制主机发送附带待测试器件的测试端口的信号给单片机控制电路，单片机控制电路用于根据该信号控制每个子开关的连通或断开，以使用于与待测试器件的测试端口耦合的子开关连通，将微波测试设备用于获取待测试器件的测试端口的测试数据，将测试数据发送给控制主机，从而通过机器代替人进行测试，不仅更加方便，还能提高测试速率、可靠性以及稳定性。

本实用新型的其他特征和优点将在随后的说明书阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本实用新型实施例而了解。本实用新型的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明