[实用新型]用于电路板测试的开关电路有效
| 申请号： | 201720506052.5 | 申请日： | 2017-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN206788317U | 公开（公告）日： | 2017-12-22 |
| 发明（设计）人： | 刘桥平 | 申请（专利权）人： | 深圳市安硕科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种用于电路板测试的开关电路，其包括接收测试指令的IO(输入、输出)控制卡、接收IO控制卡指令的系统板及与系统板电性连接的CMOS(互补金属氧化物半导体)开关，所述系统板向CMOS开关提供测量信号，以对待测电路板进行测量，系统板向IO控制卡反馈测试结果，所述CMOS开关通过继电器与待测电路板电性连接，继电器控制CMOS开关与待测电路板的电性连接的连通与断开。本实用新型所述的用于电路板测试的开关电路，通过继电器连接CMOS开关与待测电路板，在未测量时对待测电路板接地进行放电，释放大电荷的功率信号，以避免测量时大电荷功率信号烧坏CMOS开关，有利于延长CMOS开关的寿命，降低成本的同时也提高了开关电路的稳定性与可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 电路板 测试 开关电路 | ||
【主权项】：
一种用于电路板测试的开关电路，其包括发送测试指令的IO控制卡、接收IO控制卡指令的系统板及与系统板电性连接的CMOS开关，所述系统板向CMOS开关提供测量信号，以对待测电路板进行测量，系统板向IO控制卡反馈测试结果，其特征在于，所述CMOS开关通过继电器与待测电路板电性连接，继电器控制CMOS开关与待测电路板的电性连接的连通与断开。
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