[实用新型]用于电路板测试的开关电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及测试领域，尤其涉及一种用于电路板测试的开关电路。

背景技术

电路板制成后均需要进行测试，以确保各方面的性能都正常。ICT(In Circuit Tester)测试则是其中一种较为普遍的测试方式，现有用于测试的电路中多采用普通开关，反应速度慢，寿命短，不能满足反复测试的需求。

实用新型内容

本实用新型即是克服现有技术不足，提供一种低成本且稳定可靠的测试用开关电路。

具体来说，一种用于电路板测试的开关电路，其包括接收测试指令的IO(输入、输出)控制卡、接收IO控制卡指令的系统板及与系统板电性连接的CMOS(互补金属氧化物半导体)开关，所述系统板向CMOS开关提供测量信号，以对待测电路板进行测量，系统板向IO控制卡反馈测试结果，所述CMOS开关通过继电器与待测电路板电性连接，继电器控制CMOS开关与待测电路板的电性连接的连通与断开。

进一步的，在未进行测试时，所述待测电路板接地，在进行测试时，所述待测电路板连接CMOS开关。

进一步的，所述CMOS开关设有若干信号点接口，所述CMOS开关通过信号点接口与继电器电性连接。

进一步的，所述各信号点接口能够同时工作。

进一步的，所述信号点接口适配于交流信号源及直流信号源。

本实用新型所述的用于电路板测试的开关电路，通过继电器连接CMOS开关与待测电路板，在未测量时对待测电路板接地进行放电，释放大电荷的功率信号，以避免测量时大电荷功率信号烧坏CMOS开关，有利于延长CMOS开关的寿命，降低成本的同时也提高了开关电路的稳定性与可靠性。

附图说明

图1为本实用新型用于电路板测试的开关电路的框架图。

具体实施方式

以下结合附图，对本实用新型所述的用于电路板测试的开关电路进行非限制性地说明，目的是为了公众更好地理解所述的技术内容。

如图1所示，本实用新型所述的用于电路板测试的开关电路可用于工业测试，如ICT(In Circuit Tester)测试，可作为电路板量测系统与电路板连接的传输界面。所述用于电路板测试的开关电路包括接收上位机7测试指令的IO控制卡1、接收IO控制卡1指令的系统板2及与系统板电性连接的CMOS开关3，所述系统板2向CMOS开关3提供测量信号，以对待测电路板6进行测量，测试完成后系统板2向IO控制卡1反馈测试结果，IO控制卡1向上位机7发送测试结果并通过上位机显示。

所述CMOS开关3通过继电器5与待测电路板6电性连接，继电器5控制CMOS开关3与待测电路板6的电性连接的连通与断开。具体来说，在未进行测试时，所述继电器5控制待测电路板6接地，在进行测试时，所述继电器5控制待测电路板6连接CMOS开关3。如此，待测电路板6在测试前就可释放大电荷功率信号，避免测试时大电荷功率信号烧坏CMOS开关3。

所述CMOS开关3设有若干信号点接口4(图1仅示意其中一个)，所述CMOS开关3通过信号点接口4与继电器5电性连接。所述各信号点接口4能够同时工作，，各信号点接口能够搭配使用可检测两端电子元件、三端电子元件或四端电子元件，可用于测试电阻值、电容值、电压值、电感量、二极管、三极管、稳压管、场效应管、光耦、继电器、开路、短路等。

所述信号点接口适配于交流信号源及直流信号源，有效扩大了其测试的范围。

当然，继电器5也可组成隔离电路配合其它功能测试使用，当需要输入大功率信号到待测电路板6时，继电器5可一直处于常开状态，此时CMOS开关3的输入端与待测电路板断开连接，即可实现不同测试项目之间的切换，又可防止CMOS开关损坏。

本实用新型所述的用于电路板测试的开关电路，通过继电器连接CMOS开关与待测电路板，在未测量时对测电路板接地进行放电，释放大电荷的功率信号，以避免测量时大电荷功率信号烧坏CMOS开关，有利于延长CMOS开关的寿命，也提高了开关电路的稳定性与可靠性。另外，还有利于减少CMOS开关的数量，缩小PCB尺寸，降低成本。

应该理解的是，上述内容不是对所述技术方案的限制，事实上，凡以相同或近似原理对所述技术方案进行的改进，包括各部分的形状、尺寸、所用材质的改进，以及相似功能元件的替换，都在本实用新型要求保护的技术方案之内。