[实用新型]用于测量装置的光学传感器和测量系统有效

专利信息
申请号: 201720451603.2 申请日: 2017-04-26
公开(公告)号: CN207456386U 公开(公告)日: 2018-06-05
发明(设计)人: 托马斯·延森;P·艾尔格;J·沙尔多南;L·雷梅鲁伯尔;A·纳尔杜利 申请(专利权)人: 特莎有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 吕俊刚;杨薇
地址: 瑞士*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要: 用于测量装置的光学传感器和测量系统。一种用于测量装置的光学传感器(1、1’),具有:光学机械耦合单元,该光学机械耦合单元适于提供光学传感器(1、1’)到测量装置的自动耦合,并且适于提供测量辐射在测量装置与光学传感器(1、1’)之间的双向传输;和第一光学测量通道,借助于其能够提供测量辐射在测量装置与光学传感器(1、1’)的第一出射窗(21a)之间的双向传输;第二光学测量通道,借助于其能够提供测量辐射在测量装置与光学传感器(1、1’)的第二出射窗(21b)之间的双向传输;和开关(10、10’),该开关用于进行对测量辐射的传输的提供的受控改变,改变至少能够在第一光学测量通道或第二光学测量通道之间提供。
搜索关键词: 光学传感器 测量装置 光学测量 双向传输 测量 辐射 测量系统 光学机械 耦合单元 出射窗 自动耦合 受控 传输
【主权项】:
一种用于测量装置的光学传感器(1、1’),其特征在于,该光学传感器用于借助于测量辐射的发射和在待测量对象上反射的测量辐射的捕获进行距离测量,所述光学传感器(1、1’)具有:·光学机械耦合单元,该光学机械耦合单元适于提供所述光学传感器(1、1’)到所述测量装置的自动耦合,并且适于提供测量辐射在所述测量装置与所述光学传感器(1、1’)之间的双向传输;和·第一光学测量通道,借助于该第一光学测量通道,能够提供测量辐射在所述测量装置与所述光学传感器(1、1’)的第一出射窗(21a)之间的所述双向传输,其中,所述光学传感器(1、1’)还包括:·第二光学测量通道,借助于该第二光学测量通道,能够提供测量辐射在所述测量装置与所述光学传感器(1、1’)的第二出射窗(21b)之间的双向传输;和·开关(10、10’),该开关用于进行对测量辐射的所述传输的提供的受控改变,所述改变至少能够在所述第一光学测量通道或所述第二光学测量通道之间提供,其中,所述第一光学测量通道和所述第二光学测量通道以及所述开关(10、10’)被设置且构造成使得:·通过切换所述开关(10、10’),在测量辐射穿过所述第一光学测量通道的所述传输和测量辐射通过所述第二光学测量通道的所述传输之间发生改变,以及·测量辐射的所述传输在每个情况下仅经由所述第一光学测量通道或仅经由所述第二光学测量通道来提供。
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