[实用新型]用于测量装置的光学传感器和测量系统

权利要求书

1.一种用于测量装置的光学传感器(1、1’)，其特征在于，该光学传感器用于借助于测量辐射的发射和在待测量对象上反射的测量辐射的捕获进行距离测量，所述光学传感器(1、1’)具有：

·光学机械耦合单元，该光学机械耦合单元适于提供所述光学传感器(1、1’)到所述测量装置的自动耦合，并且适于提供测量辐射在所述测量装置与所述光学传感器(1、1’)之间的双向传输；和

·第一光学测量通道，借助于该第一光学测量通道，能够提供测量辐射在所述测量装置与所述光学传感器(1、1’)的第一出射窗(21a)之间的所述双向传输，

其中，所述光学传感器(1、1’)还包括：

·第二光学测量通道，借助于该第二光学测量通道，能够提供测量辐射在所述测量装置与所述光学传感器(1、1’)的第二出射窗(21b)之间的双向传输；和

·开关(10、10’)，该开关用于进行对测量辐射的所述传输的提供的受控改变，所述改变至少能够在所述第一光学测量通道或所述第二光学测量通道之间提供，

其中，所述第一光学测量通道和所述第二光学测量通道以及所述开关(10、10’)被设置且构造成使得：

·通过切换所述开关(10、10’)，在测量辐射穿过所述第一光学测量通道的所述传输和测量辐射通过所述第二光学测量通道的所述传输之间发生改变，以及

·测量辐射的所述传输在每个情况下仅经由所述第一光学测量通道或仅经由所述第二光学测量通道来提供。

2.根据权利要求1所述的光学传感器(1、1’)，其特征在于，所述光学传感器(1、1’)用于坐标测量机。

3.根据权利要求1所述的光学传感器(1、1’)，其特征在于，

·所述第一出射窗(21a)具有第一光学单元，该第一光学单元用于测量束成型并且用于检测所述反射的测量辐射，以及

·所述第二出射窗(21b)具有第二光学单元，该第二光学单元用于测量束成型并且用于检测所述反射的测量辐射。

4.根据权利要求3所述的光学传感器(1、1’)，其特征在于，所述第一光学单元和所述第二光学单元关于其光学特性不同。

5.根据权利要求4所述的光学传感器(1、1’)，其特征在于，所述光学特性为聚焦。

6.根据权利要求1所述的光学传感器(1、1’)，其特征在于，

·所述第一出射窗(21a)限定用于所述测量辐射的第一发射轴线(22a)，以及

·所述第二出射窗(21b)限定用于所述测量辐射的第二发射轴线(22b)，

其中，所述第一发射轴线(22a)不同于所述第二发射轴线(22b)。

7.根据权利要求6所述的光学传感器(1、1’)，其特征在于，

所述第一发射轴线(22a)和所述第二发射轴线(22b)成限定角度或被设置为彼此正交。

8.根据权利要求1所述的光学传感器(1、1’)，其特征在于，

至少所述第一光学测量通道具有第一光纤(13a-d、23a-d、33a、33b)，并且所述测量辐射能够借助于所述第一光纤(13a-d、23a-d、33a、33b)来引导。

9.根据权利要求8所述的光学传感器(1、1’)，其特征在于，至少所述第一光学测量通道大致完全由所述第一光纤或多个光纤(13a-d、23a-d、33a、33b)形成。

10.根据权利要求8所述的光学传感器(1、1’)，其特征在于，所述光学传感器(1、1’)包括位于至少一个光纤上的包层过滤器。

11.根据权利要求1所述的光学传感器(1、1’)，其特征在于，

所述第二光学测量通道具有第二光纤(13a-d、23a-d、33a、33b)，并且所述测量辐射能够借助于所述第二光纤(13a-d、23a-d、33a、33b)来引导。