[实用新型]一种精度可调的扭摆式微推力测试装置有效

专利信息
申请号: 201720374807.0 申请日: 2017-04-11
公开(公告)号: CN207163618U 公开(公告)日: 2018-03-30
发明(设计)人: 吴立志;章皓男;胡蓬;郭宁;何念栢;沈瑞琪;吴修伟 申请(专利权)人: 南京理工大学;上海新力动力设备研究所
主分类号: G01L5/00 分类号: G01L5/00
代理公司: 南京理工大学专利中心32203 代理人: 邹伟红
地址: 210094 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型提供一种精度可调的扭摆式微推力测试装置,可测试μN~mN量级的微推力,该装置包括在工作平台上依次设置的位移传感器、扭摆、配重、电磁阻尼器。本实用新型提供的扭摆摆臂为可伸缩式,通过对摆臂长度的调节可满足不同连续测试精度的需求,且伸缩臂伸出后可实现不同尺寸待测微推力装置的装载测试。设定扭摆顶板处螺栓定位孔径大于支柱螺栓固定孔径,通过微调顶板可有效减小枢轴安装的偏心误差,提高测试精度。该装置结构简单,体积小,可放置于真空环境进行测试,测量带宽大,精度高。
搜索关键词: 一种 精度 可调 扭摆 式微 推力 测试 装置
【主权项】:
一种精度可调的扭摆式微推力测试装置,包括:在工作平台(11)上依次设置的位移传感器(10)、装置主体、配重(8)、电磁阻尼器(9),其特征在于:装置主体为扭摆,具体为:摆臂主体(1)、伸缩臂(2)、枢轴(3)、挠性轴(4)、支柱(5)、顶板(6)、底板(7);其中,摆臂主体(1)与枢轴(3)固定相对静止,枢轴(3)上下两侧通过轴套分别连接挠性轴(4)并定位于顶板(6)和底板(7)的中心,支柱(5)位于枢轴(3)两侧固定于顶板(6)和底板(7)之间;摆臂主体(1)靠近位移传感器的一端,其内侧设有工字形的伸缩槽(12),伸缩臂(2)设置为与该伸缩槽(12)相配合的工字形结构并可沿伸缩槽(12)滑动;摆臂主体(1)的另一端上提供配重移动槽(14)使放置在摆臂主体(1)上的配重(8)配合伸缩臂(2)滑动。
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