[实用新型]一种精度可调的扭摆式微推力测试装置有效

专利信息
申请号: 201720374807.0 申请日: 2017-04-11
公开(公告)号: CN207163618U 公开(公告)日: 2018-03-30
发明(设计)人: 吴立志;章皓男;胡蓬;郭宁;何念栢;沈瑞琪;吴修伟 申请(专利权)人: 南京理工大学;上海新力动力设备研究所
主分类号: G01L5/00 分类号: G01L5/00
代理公司: 南京理工大学专利中心32203 代理人: 邹伟红
地址: 210094 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 精度 可调 扭摆 式微 推力 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种精度可调的扭摆式微推力测试装置,包括:在工作平台(11)上依次设置的位移传感器(10)、装置主体、配重(8)、电磁阻尼器(9),其特征在于:

装置主体为扭摆,具体为:摆臂主体(1)、伸缩臂(2)、枢轴(3)、挠性轴(4)、支柱(5)、顶板(6)、底板(7);

其中,摆臂主体(1)与枢轴(3)固定相对静止,枢轴(3)上下两侧通过轴套分别连接挠性轴(4)并定位于顶板(6)和底板(7)的中心,支柱(5)位于枢轴(3)两侧固定于顶板(6)和底板(7)之间;

摆臂主体(1)靠近位移传感器的一端,其内侧设有工字形的伸缩槽(12),伸缩臂(2)设置为与该伸缩槽(12)相配合的工字形结构并可沿伸缩槽(12)滑动;

摆臂主体(1)的另一端上提供配重移动槽(14)使放置在摆臂主体(1)上的配重(8)配合伸缩臂(2)滑动。

2.根据权利要求1所述的微推力测试装置,其特征在于:所述的枢轴(3)穿过摆臂主体(1)上的枢轴固定孔(13)。

3.根据权利要求1或2所述的微推力测试装置,其特征在于:所述的枢轴固定孔(13)的孔径大于摆臂主体(1)的内侧宽度。

4.根据权利要求3所述的微推力测试装置,其特征在于:所述的枢轴固定孔(13)的孔径大于摆臂主体(1)内侧宽度6mm。

5.根据权利要求1所述的微推力测试装置,其特征在于:所述的摆臂主体(1)与枢轴(3)通过对称于摆臂主体(1)水平中心面的两个螺栓穿透固定。

6.根据权利要求1所述的微推力测试装置,其特征在于:所述的摆臂主体(1)与伸缩臂(2)之间为嵌套式结构,摆臂长度变化范围为460~560mm,在伸缩槽(12)两侧距离枢轴(3)中心240mm处各设有1个螺纹孔,根据测量分辨率要求确定伸缩臂(2)在伸缩槽(12)内移动的距离后,分别于两侧的螺纹孔用紧固螺钉将伸缩臂(2)固定在伸缩槽(12)内,保证测试过程中伸缩臂(2)与摆臂主体(1)无相对位移;此外,伸缩臂(2)前端设有螺纹孔用于固定微推力待测装置。

7.根据权利要求1所述的微推力测试装置,其特征在于:所述的配重(8)在配重移动槽(14)内移动的可移动距离为40mm,所述的配重(8)通过在底端设置的螺母及垫片(21)与摆臂主体(1)紧固。

8.根据权利要求1所述的微推力测试装置,其特征在于:所述的挠性轴(4)分别通过挠性轴套(17)和挠性轴底座(18)将枢轴(3)与底板(7)相连。

9.根据权利要求1所述的微推力测试装置,其特征在于,顶板(6)上设有挠性轴定位孔(19)与挠性轴(4)通过紧固螺钉紧固,顶板(6)上设有螺栓定位孔(20),其孔径大于支柱螺栓固定孔径4mm,即顶板(6)与支柱(5)在接触平面任意方向形成2mm的微调间隙(22)。

10.根据权利要求1所述的微推力测试装置,其特征在于,所述的电磁阻尼器(9)为Agilent E3633A;所述的位移传感器(10)为反射式激光位移传感器。

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