[实用新型]微波介质陶瓷的频率温度系数的测试装置及测试系统有效
| 申请号： | 201720353121.3 | 申请日： | 2017-04-06 |
| 公开（公告）号： | CN206670811U | 公开（公告）日： | 2017-11-24 |
| 发明（设计）人： | 赵飞;裴静;阚劲松 | 申请（专利权）人： | 中国电子技术标准化研究院;北京赛西科技发展有限责任公司 |
| 主分类号： | G01K7/02 | 分类号： | G01K7/02;G01N25/00 |
| 代理公司： | 北京恩赫律师事务所11469 | 代理人： | 赵文成 |
| 地址： | 100176 北京市大*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种微波介质陶瓷的频率温度系数的测试装置及测试系统，涉及微波测试技术领域。所述测试装置包括水槽，所述水槽内设置有谐振腔支架和设置于所述谐振腔支架上方的谐振腔，所述谐振腔内设置有用于放置被测样品的介质支撑柱，所述谐振腔内设置有用于测量被测样品温度的测温装置。本实用新型既能够确保被测微波介质陶瓷的频率温度系数的准确性，又能降低其成本。 | ||
| 搜索关键词： | 微波 介质 陶瓷 频率 温度 系数 测试 装置 系统 | ||
【主权项】：
一种微波介质陶瓷的频率温度系数的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括水槽，所述水槽内设置有谐振腔支架和设置于所述谐振腔支架上方的谐振腔，所述谐振腔内设置有用于放置被测样品的介质支撑柱，所述谐振腔内设置有用于测量被测样品温度的测温装置。
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