[实用新型]微波介质陶瓷的频率温度系数的测试装置及测试系统

权利要求书

1.一种微波介质陶瓷的频率温度系数的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括水槽，所述水槽内设置有谐振腔支架和设置于所述谐振腔支架上方的谐振腔，所述谐振腔内设置有用于放置被测样品的介质支撑柱，所述谐振腔内设置有用于测量被测样品温度的测温装置。

2.根据权利要求1所述的微波介质陶瓷的频率温度系数的测试装置，其特征在于，所述测温装置为温度计，所述温度计的一端设置在所述谐振腔内，另一端伸出所述谐振腔。

3.根据权利要求2所述的微波介质陶瓷的频率温度系数的测试装置，其特征在于，所述温度计为玻璃管温度计、气体温度计或压力式温度计。

4.根据权利要求2所述的微波介质陶瓷的频率温度系数的测试装置，其特征在于，所述谐振腔包括谐振腔主体和设置于所述谐振腔主体上方的谐振腔上盖，所述温度计安装在所述谐振腔上盖的中心位置，并采用密封胶密封。

5.根据权利要求4所述的微波介质陶瓷的频率温度系数的测试装置，其特征在于，所述谐振腔上盖与谐振腔主体之间通过螺纹连接或紧密配合再辅以螺丝固定。

6.根据权利要求1至5中任一所述的微波介质陶瓷的频率温度系数的测试装置，其特征在于，所述谐振腔两侧与水槽之间设置有一对通过所述谐振腔轴心的同轴线缆套管。

7.根据权利要求6所述的微波介质陶瓷的频率温度系数的测试装置，其特征在于，所述谐振腔的材质为铜或铝，所述谐振腔内部进行表面抛光以及镀金或镀银处理。

8.根据权利要求6所述的微波介质陶瓷的频率温度系数的测试装置，其特征在于，所述谐振腔的外部进行镀金或镀铬。

9.根据权利要求1所述的微波介质陶瓷的频率温度系数的测试装置，其特征在于，所述测温装置的测试温度范围为0～100℃。

10.一种微波介质陶瓷的频率温度系数的测试系统，其特征在于，包括权利要求1至9中任一所示的微波介质陶瓷的频率温度系数的测试装置、用于测量分析被测样品的网络参数的网络分析仪和用于加热所述水槽内的水的加热装置，所述谐振腔与网络分析仪之间通过同轴线缆连接。