[实用新型]集成电路测试装置及其测试探针有效
| 申请号： | 201720299385.5 | 申请日： | 2017-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN206696394U | 公开（公告）日： | 2017-12-01 |
| 发明（设计）人： | 王国华;谢伟 | 申请（专利权）人： | 深圳市斯纳达科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/067;G01R1/073 |
| 代理公司： | 深圳市沃德知识产权代理事务所(普通合伙)44347 | 代理人： | 高杰,于志光 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市光明*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种测试探针，包括由导电材料制成的针筒、连接于所述针筒一端的第一针头、和连接于所述针筒另一端的第二针头，所述测试探针还包括为针头活动提供弹力的非螺旋形弹性体，所述弹性体装设在所述针筒内，所述第一针头的内端可活动地插设在所述针筒内，所述第一针头的外端伸出到所述针筒外，所述第一针头的内端与所述弹性体的一端抵接。本实用新型的测试探针制作容易且成本低，并且可满足对高频集成电路进行测试的要求。本实用新型还公开一种采用所述测试探针的集成电路测试装置。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 装置 及其 探针 | ||
【主权项】：
一种测试探针，包括由导电材料制成的针筒、连接于所述针筒一端的第一针头、和连接于所述针筒另一端的第二针头，其特征在于，所述测试探针还包括为针头活动提供弹力的非螺旋形弹性体，所述弹性体装设在所述针筒内，所述第一针头的内端可活动地插设在所述针筒内，所述第一针头的外端伸出到所述针筒外，所述第一针头的内端与所述弹性体的一端抵接。
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