[实用新型]键盘检验治具有效
| 申请号： | 201720240854.6 | 申请日： | 2017-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN206556575U | 公开（公告）日： | 2017-10-13 |
| 发明（设计）人： | 吴小荣;傅振兴;郭小辩 | 申请（专利权）人： | 东莞市德雅塑料制品有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/30 | 分类号： | G01B5/30 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司44202 | 代理人： | 张艳美,莫建林 |
| 地址： | 523000 广东省东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种键盘检验治具，包括治具基板及高度检测机构，所述治具基板的表面呈平直结构形成基准面，所述治具基板的横向方向上设有若干呈一排排列的第一限位柱，所述治具基板的纵向方向上设有若干呈一排排列的第二限位柱，所述第一限位柱与所述第二限位柱之间围成工件放置区，所述高度检测机构分布于所述基板的两侧，且所述高度检测机构的基准块位于所述工件放置区的上方与所述基准面之间形成检测键盘高度的基准高度。本实用新型键盘检验治具能快速检测键盘是否变形，检测简单方便，成本低。 | ||
| 搜索关键词： | 键盘 检验 | ||
【主权项】：
一种键盘检验治具，其特征在于：包括治具基板及高度检测机构，所述治具基板的表面呈平直结构形成基准面，所述治具基板的横向方向上设有若干呈一排排列的第一限位柱，所述治具基板的纵向方向上设有若干呈一排排列的第二限位柱，所述第一限位柱与所述第二限位柱之间围成工件放置区，所述高度检测机构分布于所述基板的两侧，且所述高度检测机构的基准块位于所述工件放置区的上方与所述基准面之间形成检测键盘高度的基准高度。
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