[实用新型]键盘检验治具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种键盘检验治具，尤其涉及一种能快速检测键盘是否变形，检测简单方便，成本低的键盘检验治具。

背景技术

在工件生产中，工件的型面和尺寸等参数十分重要，在安装过程中起着十分重要的配合作用，但由于生产问题，不可避免的产生一些误差或变形，造成产品的不合格。这些不合格品使得安装过程十分困难，对整个设备的品质造成影响，因此，需要对工件的型面及尺寸等进行检测，筛选出合格的产品。例如，在生产键盘的壳体时，由于键盘的壳体较薄且面积较大，容易出现变形，因此，在生产的最后阶段，需要对键盘进行变形度检查；然而，现有的键盘检测设备结构复杂，操作不便，检测步骤烦琐，维护成本高，不能满足生产的需要。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种能快速检测键盘是否变形，检测简单方便，成本低的键盘检验治具。

为了实现上述目的，本实用新型提供的键盘检验治具包括治具基板及高度检测机构，所述治具基板的表面呈平直结构形成基准面，所述治具基板的横向方向上设有若干呈一排排列的第一限位柱，所述治具基板的纵向方向上设有若干呈一排排列的第二限位柱，所述第一限位柱与所述第二限位柱之间围成工件放置区，所述高度检测机构分布于所述基板的两侧，且所述高度检测机构的基准块位于所述工件放置区的上方与所述基准面之间形成检测键盘高度的基准高度。

由于本实用新型通过使所述治具基板的表面形成基准面，再在所述治具基板的表面设置若干横向及竖向排列的第一限位柱及第二限位柱，所述第一限位柱及所述第二限位柱形成工件放置区使得键盘可以快速定位，使其检测前能快速确定基准，免去传统检测方式需要先设置基准的麻烦；又在所述治具基板的表面设置所述高度检测机构，利用所述高度检测机构的基准块与所述基准面之间形成检测键盘高度的基准高度，当所述键盘的任何一个位置高于基准高度时，移动所述基准块可以使所述基准块与所述键盘之间产生较大的摩擦，或者使所述基准块难以移动，从而可以快速地确定所述键盘是否出现变形，检测简单方便，成本低。

较佳地，所述高度检测机构包括固定套、中心轴、定位柱、支臂及所述基准块，所述固定套固定于所述治具基板的表面，所述中心轴的上端与所述定位柱固定，所述中心轴的下端滑动且可转动地套接于所述固定套内，所述支臂一端固定于所述定位柱，另一端水平伸出并与所述基准块固定；所述固定套的上端开设有矩形开口，所述定位柱的下端设有与所述矩形开口配合的定位块。

具体地，所述高度检测机构还包括套于所述中心轴上的弹性元件，所述弹簧元件提供一使所述定位块向下移动到与所述矩形开口配合的弹性力。

更具体地，所述弹性元件为压缩弹簧。

具体地，所述支臂呈L形结构。

附图说明

图1是本实用新型键盘检验治具的结构示意图。

图2是本实用新型键盘检验治具中的高度检测机构的结构示意图。

具体实施方式

为详细说明本实用新型的技术内容、构造特征、所实现的效果，以下结合实施方式并配合附图详予说明。

如图1、图2所示，本实用新型键盘检验治具100包括治具基板1及高度检测机构2，所述治具基板1的表面呈平直结构形成基准面1a，所述治具基板1的横向方向上设有若干呈一排排列的第一限位柱11，所述治具基板1的纵向方向上设有若干呈一排排列的第二限位柱12，所述第一限位柱11与所述第二限位柱12之间围成工件放置区13，所述高度检测机构2分布于所述基板的两侧，且所述高度检测机构2的基准块25位于所述工件放置区13的上方与所述基准面1a之间形成检测键盘200高度的基准高度。

再如图2所示，所述高度检测机构2包括固定套21、中心轴22、定位柱23、支臂24、弹性元件(图中未示)及所述基准块25，所述固定套21固定于所述治具基板1的表面，所述中心轴22的上端与所述定位柱23固定，所述中心轴22的下端滑动且可转动地套接于所述固定套21内，所述支臂24呈L形结构，所述支臂24一端固定于所述定位柱23，另一端先呈水平伸出再向下弯折而与所述基准块25固定；所述固定套的上端开设有矩形开口21a，所述定位柱23的下端设有与所述矩形开口21a配合的定位块23a。所述弹性元件套于所述中心轴22上的，所述弹簧元件提供一使所述定位块23a向下移动到与所述矩形开口21a配合的弹性力。本实用新型所述弹性元件为压缩弹簧。