[实用新型]一种集成电路测试用的扁平探针有效
| 申请号： | 201720152055.3 | 申请日： | 2017-02-17 |
| 公开（公告）号： | CN206515372U | 公开（公告）日： | 2017-09-22 |
| 发明（设计）人： | 陈家锋;陶杉;段超毅 | 申请（专利权）人： | 深圳凯智通微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 深圳市中科创为专利代理有限公司44384 | 代理人： | 高早红,谢亮 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种集成电路测试用的扁平探针，包括上接触端、弯折段和下接触端，其中，弯折段设置有提供弹性变形的弹簧部、以及用于导通的继电部；继电部上端与上接触端一体成型，其下端与下接触端的侧边接触固定。本实用新型扁平测试探针是一体的及没有内部摩擦影响寿命，一般寿命可以达到常规探针的5倍以上，且导通性能比一般探针的更好及电气参数远优于常规探针。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试 扁平 探针 | ||
【主权项】：
一种集成电路测试用的扁平探针，其特征在于：包括上接触端、弯折段和下接触端，其中，弯折段设置有提供弹性变形并与上接触端和下接触端一体成型的弹簧部、以及用于导通的继电部；继电部上端与上接触端一体成型，其下端与下接触端的侧边接触固定。
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