[实用新型]一种用于矩阵排列芯片的测试装置有效
| 申请号： | 201720068891.3 | 申请日： | 2017-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN206460140U | 公开（公告）日： | 2017-09-01 |
| 发明（设计）人： | 谭巧灵;李亮;赵余成;肖裕权 | 申请（专利权）人： | 深圳市汇顶科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京合智同创知识产权代理有限公司11545 | 代理人： | 李杰 |
| 地址： | 518045 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型实施例提供一种用于矩阵排列芯片的测试装置，包括上料区、下料区、测试区以及横跨所述上料区、下料区、测试区的传送小车。所述测试区包括至少两个测试工位，所述测试工位内部具有对基板进行移位的传送轴，所述传送轴运动方向和所述传送小车运动方向垂直，所述搬运小车按照各测试工位的实际状态进行搬运。本实用新型实施例用以高效利用传送小车，提高芯片测试装置的产能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 矩阵 排列 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种用于矩阵排列芯片的测试装置，包括上料区、下料区、测试区以及横跨所述上料区、下料区、测试区的传送小车，其特征在于，所述测试区包括至少两个测试工位，所述测试工位内部具有对基板进行移位的传送轴，所述传送轴运动方向和所述传送小车运动方向垂直，所述传送小车按照各测试工位的实际状态进行搬运。
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