[实用新型]一种用于矩阵排列芯片的测试装置有效

专利信息
申请号: 201720068891.3 申请日: 2017-01-19
公开(公告)号: CN206460140U 公开(公告)日: 2017-09-01
发明(设计)人: 谭巧灵;李亮;赵余成;肖裕权 申请(专利权)人: 深圳市汇顶科技股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京合智同创知识产权代理有限公司11545 代理人: 李杰
地址: 518045 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 矩阵 排列 芯片 测试 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及芯片测试技术领域,尤其涉及一种用于矩阵排列芯片的测试装置。

背景技术

随着指纹识别和移动支付浪潮的到来,指纹芯片迎来了爆发增长,而为满足不同手机产商对指纹芯片不同形状及不同尺寸的要求,矩阵排列芯片(Strip芯片)应运而生。矩阵排列芯片(Strip芯片)是在一条基板上有多颗成矩阵排列的芯片,芯片与芯片之间有一定的空间距离,这样方便客户切割成自己需要的形状与尺寸。

传统的芯片测试装置主要是针对单颗分离芯片的测试需求设计的,无法针对矩阵排列芯片进行高效测试。

因此,如何提高芯片测试装置的产能,成为现有技术中亟需解决的技术问题。

实用新型内容

有鉴于此,本实用新型实施例所解决的技术问题之一在于提供一种用于矩阵排列芯片的测试装置,提高芯片测试装置的产能。

本实用新型实施例提供一种用于矩阵排列芯片的测试装置,包括上料区、下料区、测试区以及横跨所述上料区、下料区、测试区的传送小车。所述测试区包括至少两个测试工位,所述测试工位内部具有对基板进行移位的传送轴,所述传送轴运动方向和所述传送小车运动方向垂直,所述搬运小车按照各测试工位的实际状态进行搬运。

由以上技术方案可见,本实用新型所述测试装置的测试区包括至少两个测试工位,本实用新型所述传送小车将进行测试的矩阵排列芯片(Strip芯片)的条状基板一次性搬运至所述测试区,测试区的测试工位利用传送轴根据所述条状基板上芯片的位置对基板进行移位。因此,所述条状基板的多次测试或其他操作的移位工作由测试工位的运送轴来完成,不占用垂直于测试工位的传送小车的时间。传送小车有足够的时间按照各测试工位的实际状态进行搬运,高效利用了传送小车,提高芯片测试装置的产能。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型中记载的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1是本实用新型用于矩阵排列芯片的测试装置的结构示意图。

具体实施方式

传统的芯片测试装置为单工位设计,即除了上料区、下料区外,测试区仅包括一个测试工位。传送小车(通过伺服电机控制移动的能自动搬运基板的机械结构部件)需要对每个芯片进行一次搬运操作,传送小车得到较高程度的利用。

传统的芯片测试装置无法实现矩阵排列芯片(Strip芯片)的测试。在传统的芯片测试装置的基础上经过改进了的符合矩阵排列芯片测试的装置同样为单工位设计,每片基板只需要传送小车进行一次搬运操作,传送小车没有得到高效利用。

本实用新型所述测试装置的测试区包括至少两个测试工位,本实用新型所述传送小车将进行测试的矩阵排列芯片(Strip芯片)的条状基板一次性搬运至所述测试区,测试区的测试工位利用传送轴根据所述条状基板上芯片的位置对基板进行移位。因此,所述条状基板的多次测试或其他操作的移位工作由测试工位的运送轴来完成,不占用垂直于测试工位的传送小车的时间。传送小车有足够的时间按照各测试工位的实际状态进行搬运,高效利用了传送小车,提高芯片测试装置的产能。

当然,实施本实用新型实施例的任一技术方案必不一定需要同时达到以上的所有优点。

为了使本领域的人员更好地理解本实用新型实施例中的技术方案,下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅是本实用新型实施例一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型实施例中的实施例,本领域普通技术人员所获得的所有其它实施例,都应当属于本实用新型实施例保护的范围。

下面结合本实用新型实施例附图进一步说明本实用新型实施例具体实现。

在示例性实施例的以下描述,参考由其所附的附图,其中通过图解方式示出的特定实施例可被实践。它要理解的是,其它实施例可以使用和结构的改变可以由不脱离各种实施例的范围。

参见图1,本实用新型提供一种用于矩阵排列芯片的测试装置,包括上料区11、下料区12、测试区13以及横跨所述上料区11、下料区12、测试区13的传送小车14。

具体地,所述上料区11、下料区12安装在所述测试装置的机台长边的两端,所述测试区13位于所述上料区11、下料区12之间。

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