[发明专利]基于霍夫变换及高斯拟合的面内mura检测方法及检测系统有效
| 申请号： | 201711479755.4 | 申请日： | 2017-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN108074238B | 公开（公告）日： | 2020-07-24 |
| 发明（设计）人： | 王艳雪 | 申请（专利权）人： | 惠州市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/44 |
| 代理公司： | 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 | 代理人： | 孙伟峰;武岑飞 |
| 地址： | 516000 广东省惠州市仲恺高新技术*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于霍夫变换及高斯拟合的面内mura检测方法及检测系统，检测方法包括：S1、获取原始灰阶图像；S2、根据灰阶图像获取二值化图像；S3、通过霍夫变换进行边缘检测，进而对灰阶图像的边缘进行剪裁；S4、对剪裁后的灰阶图像进行直方图统计，将直方图进行高斯函数拟合，根据拟合参数检测面内mura的程度。本发明通过霍夫变换确定显示区图像，从而获得面内mura检测区域，使用高斯函数拟合，通过拟合而来的参数，评价面内mura的严重程度，实现了面内mura的快速检测。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 变换 拟合 mura 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种基于霍夫变换及高斯拟合的面内mura检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：S1、获取原始灰阶图像；S2、根据灰阶图像获取二值化图像；S3、通过霍夫变换进行边缘检测，进而对灰阶图像的边缘进行剪裁；S4、对剪裁后的灰阶图像进行直方图统计，将直方图进行高斯函数拟合，根据拟合参数检测面内mura的程度。
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