[发明专利]基于霍夫变换及高斯拟合的面内mura检测方法及检测系统

权利要求书

1.一种基于霍夫变换及高斯拟合的面内mura检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：

S1、获取原始灰阶图像；

S2、根据灰阶图像获取二值化图像；

S3、通过霍夫变换进行边缘检测，进而对灰阶图像的边缘进行剪裁；

S4、对剪裁后的灰阶图像进行直方图统计，将直方图进行高斯函数拟合，根据拟合参数检测面内mura的程度；

所述高斯函数为a、b、c为自由参数；

步骤S4中“根据拟合参数检测面内mura的程度”具体为：

若检测到参数a大于或等于第一预设阈值a₀，且参数c小于或等于第二预设阈值c₀，则判定面内mura轻微；否则，则判定面内mura严重。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述步骤S2前还包括：

对灰阶图像进行低通滤波，消除灰阶图像中的噪声。

3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述步骤S2具体为：

对灰阶图像的直方图进行多项式拟合，根据拟合曲线极小值点得到阈值分界点，从而得到二值化图像。

4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述步骤S3具体为：

通过霍夫变换进行边缘检测，获取二值化图像中的直线起始点，根据直线起始点及像素数确定显示区域，进而对灰阶图像的边缘进行剪裁。

5.一种基于霍夫变换及高斯拟合的面内mura检测系统，其特征在于，所述检测系统包括：

图像获取单元，用于获取原始灰阶图像；

图像处理单元，用于根据灰阶图像获取二值化图像；

霍夫变换单元，用于通过霍夫变换进行边缘检测，进而对灰阶图像的边缘进行剪裁；

高斯拟合单元，用于对剪裁后的灰阶图像进行直方图统计，将直方图进行高斯函数拟合，根据拟合参数检测面内mura的程度；

所述高斯拟合单元还用于：

对剪裁后的灰阶图像进行直方图统计，将直方图进行高斯函数拟合，高斯函数为a、b、c为自由参数，若检测到参数a大于或等于第一预设阈值a₀，且参数c小于或等于第二预设阈值c₀，则判定面内mura轻微；否则，则判定面内mura严重。

6.根据权利要求5所述的检测系统，其特征在于，所述检测系统还包括：

低通滤波单元，所述低通滤波单元包括巴特沃斯滤波器，用于对灰阶图像进行低通滤波，消除灰阶图像中的噪声。

7.根据权利要求6所述的检测系统，其特征在于，所述图像处理单元还用于：

对灰阶图像的直方图进行多项式拟合，根据拟合曲线极小值点得到阈值分界点，从而得到二值化图像。

8.根据权利要求6所述的检测系统，其特征在于，所述霍夫变换单元还用于：

通过霍夫变换进行边缘检测，获取二值化图像中的直线起始点，根据直线起始点及像素数确定显示区域，进而对灰阶图像的边缘进行剪裁。