[发明专利]存储器测试系统及其操作方法有效
| 申请号： | 201711471770.4 | 申请日： | 2017-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN108694988B | 公开（公告）日： | 2022-09-23 |
| 发明（设计）人： | 崔仁镐;刘澔龙 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 张晶;赵赫 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种存储器测试系统，可包括：数据存储装置，包括非易失性存储器装置和控制器，控制器被配置成控制非易失性存储器装置的操作；以及测试装置，被配置成：向数据存储装置请求测试；在数据存储装置中执行测试时，向数据存储装置请求输出通过用于执行测试而驱动固件所生成的变量；并且基于从数据存储装置输出的变量来确定固件是否被正常驱动。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 系统 及其 操作方法 | ||
【主权项】：
1.一种存储器测试系统，其包括：数据存储装置，其包括非易失性存储器装置和控制器，所述控制器被配置成控制所述非易失性存储器装置的操作；以及测试装置，其被配置成：向所述数据存储装置请求测试；在所述数据存储装置中执行所述测试时，向所述数据存储装置请求输出通过用于执行所述测试而驱动固件所生成的变量；并且基于从所述数据存储装置输出的变量来确定所述固件是否被正常驱动。
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