[发明专利]存储器测试系统及其操作方法

说明书

本发明涉及一种存储器测试系统，可包括：数据存储装置，包括非易失性存储器装置和控制器，控制器被配置成控制非易失性存储器装置的操作；以及测试装置，被配置成：向数据存储装置请求测试；在数据存储装置中执行测试时，向数据存储装置请求输出通过用于执行测试而驱动固件所生成的变量；并且基于从数据存储装置输出的变量来确定固件是否被正常驱动。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2017年3月29日提交的申请号为10-2017-0040086的韩国申请的优先权，其全部内容通过引用并入本文。

技术领域

各个实施例总体涉及一种半导体装置。更特别地，本公开的实施例涉及一种用于测试存储器的系统和方法。

背景技术

存储器装置在制造之后经历各种测试以检查其是否被正常操作。对存储器装置的测试包括黑盒测试和白盒测试，黑盒测试在存储器装置中存储的固件(FW)的策略为未知的状态下执行，白盒测试在FW的策略为已知的状态下执行。

通常，通过确定每个存储器装置对特定测试命令的响应精度的过程来对存储器装置执行测试。如果存储器装置的响应不准确，则确定对应的存储器装置存在缺陷，然后使用单独的调试设备来执行存储器装置的缺陷分析。

这样，因为对存储器装置的操作测试和对被确定为存在缺陷的存储器装置的缺陷分析被分开执行，所以增加了测试时间和成本。

发明内容

各个实施例提供了一种能够实时监控固件的驱动状态的用于测试存储器的系统和方法。

各个实施例提供了一种能够减少测试时间的用于测试存储器的系统和方法。

各个实施例提供了一种能够容易地测量固件的测试覆盖范围(coverage)的用于测试存储器的系统和方法。

在实施例中，存储器测试系统可包括：数据存储装置，包括非易失性存储器装置和控制器，控制器被配置成控制非易失性存储器装置的操作；以及测试装置，被配置成：请求对数据存储装置的测试；在数据存储装置中执行测试时，向数据存储装置请求输出通过用于执行测试而驱动固件所生成的变量；并且基于从数据存储装置输出的变量来确定固件是否被正常驱动。

在实施例中，用于测试存储器的方法可包括：向数据存储装置传输用于对数据存储装置执行测试的测试命令；在数据存储装置中执行测试的同时，监控通过用于执行对应于测试命令的测试而驱动固件所生成的变量；确定变量是否有效；如果变量有效，则确定从数据存储装置接收到的测试结果是否正常。

在实施例中，一种存储器测试装置的操作方法可包括：向数据存储装置请求在测试操作中正在驱动固件时生成的变量；并基于该变量确定固件的正常驱动。数据存储装置包括固件和存储器装置。固件在被驱动时控制存储器装置。

附图说明

图1是示意性示出根据本公开的实施例的存储器测试系统的框图。

图2是示出变量信息表的示例的简图。

图3是示出多个源代码组和插入在多个源代码组之间的多个驱动校验码的简图。

图4是示出存储用于表示图3的各源代码组是否被驱动的值的驱动校验区域的简图。

图5是示出通过驱动校验码的驱动而在驱动校验区域中存储第一值的示例的简图。

图6是示出变量表的示例的简图。

图7是示出根据实施例的用于测试存储器的方法的流程图。

图8是详细示出图7的步骤S420的流程图。

图9A是示出图1的非易失性存储器装置的配置的示例的框图。