[发明专利]一种激光微区剥蚀产物组分与同位素并行分析装置及方法在审

专利信息
申请号: 201711456305.3 申请日: 2017-12-28
公开(公告)号: CN108318591A 公开(公告)日: 2018-07-24
发明(设计)人: 于聪;黄凌;胡国艺 申请(专利权)人: 中国石油天然气股份有限公司
主分类号: G01N30/02 分类号: G01N30/02;G01N30/72
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 沈金辉;董于虎
地址: 100007 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种激光微区剥蚀产物组分与同位素并行分析装置及方法,该装置包括激光微区剥蚀系统、进样系统、温控系统和分析检测系统;其中,进样系统中的产物捕集装置用于将激光微区剥蚀系统排出的气态产物冷凝富集起来,并在指定条件下通过温控系统的加热处理将所述气态产物再释放出来;分析检测系统中的气路分流装置用于将色谱仪分离的化合物按一定比例分流后分别导入质谱仪和同位素仪;样品的进样温度由设置于色谱仪外的温控系统控制。本发明提供的方案可以实现激光微区剥蚀产物的组分和单体烃同位素在线并行分析,保证了实验数据的全面和准确性,同时提高了实验效率。
搜索关键词: 激光微区 剥蚀 同位素 并行分析 温控系统 分析检测系统 进样系统 气态产物 色谱仪 捕集装置 分流装置 加热处理 实验数据 实验效率 指定条件 单体烃 质谱仪 冷凝 富集 进样 排出 气路 分流 释放 保证
【主权项】:
1.一种激光微区剥蚀产物组分与同位素并行分析装置,其特征在于,该装置包括激光微区剥蚀系统、进样系统、温控系统和分析检测系统;所述激光微区剥蚀系统包括激光发射器、显微镜光路组件、样品室、载气管线和产物引出管线;所述载气管线上设置有第一阀门;所述进样系统包括产物捕集装置和进样控制装置;其中,所述产物捕集装置的入口端与激光微区剥蚀系统中的产物引出管线连通,出口端与分析检测系统连通;该产物捕集装置用于将激光微区剥蚀系统排出的气态产物冷凝富集起来,并在指定条件下通过温控系统的加热处理将所述气态产物再释放出来;所述进样控制装置为一设置有流量计和第二阀门并与外界联通的管路,设置于产物捕集装置和分析检测系统连通的管路上;该进样控制装置用于检测进入进样系统的载气流量,并通过控制第二阀门的开合将进样系统中引出的气体排出外界或引入分析检测系统;所述分析检测系统包括色谱仪、质谱仪、稳定同位素仪和气路分流装置;其中,所述色谱仪中的色谱柱直接与进样系统中的产物捕集装置连通,色谱仪的出口端设置有气路分流装置;所述气路分流装置的出口端分别与质谱仪和同位素仪连通,该气路分流装置用于将色谱仪分离的化合物按一定比例分流后分别导入质谱仪和同位素仪;样品的进样温度由设置于色谱仪外的温控系统控制;所述气路分流装置的分流比范围为(1.5:8.5)‑(2.5:7.5),其中,小比例气体进入质谱仪。
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