[发明专利]一种基于Matlab的Nand Flash测试系统及方法在审

专利信息
申请号: 201711443402.9 申请日: 2017-12-27
公开(公告)号: CN108109670A 公开(公告)日: 2018-06-01
发明(设计)人: 刘升;魏超 申请(专利权)人: 西安奇维科技有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 西安亿诺专利代理有限公司 61220 代理人: 康凯
地址: 710077 陕西省西安*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种基于Matlab的Nand Flash测试系统及方法,属于存储器测试领域,其特征在于:包括测试板和Matlab测试模块;所述测试板包括存储模块、测试座、FPGA模块和通讯接口;所述存储模块、测试座和通讯接口均与FPGA模块相连接;所述通讯接口与Matlab测试模块相连接。通过在一个通用硬件平台上可视化、可控的完成对Nand Flash的读、写、擦除测试和数据分析,也可以按照需求自行扩展测试功能,能够快捷、高效、可靠的完成对Nand Flash的测试,适应了Nand Flash存储技术发展的未来需求,可持续对复杂程度日益增长的Nand Flash测试进行完整、快速的测试,为企业节约成本。
搜索关键词: 通讯接口 测试系统 存储模块 测试板 测试座 测试 通用硬件平台 存储器测试 擦除测试 技术发展 扩展测试 数据分析 可控的 可视化 节约
【主权项】:
1.一种基于Matlab的Nand Flash测试系统,其特征在于:包括测试板和设置于计算机上的Matlab测试模块;所述测试板包括存储模块、测试座、FPGA模块和通讯接口;所述存储模块、测试座和通讯接口均与FPGA模块相连接;所述通讯接口与Matlab测试模块相连接。
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