[发明专利]一种基于Matlab的Nand Flash测试系统及方法

说明书

一种基于Matlab的Nand Flash测试系统及方法，属于存储器测试领域，其特征在于：包括测试板和Matlab测试模块；所述测试板包括存储模块、测试座、FPGA模块和通讯接口；所述存储模块、测试座和通讯接口均与FPGA模块相连接；所述通讯接口与Matlab测试模块相连接。通过在一个通用硬件平台上可视化、可控的完成对Nand Flash的读、写、擦除测试和数据分析，也可以按照需求自行扩展测试功能，能够快捷、高效、可靠的完成对Nand Flash的测试，适应了Nand Flash存储技术发展的未来需求，可持续对复杂程度日益增长的Nand Flash测试进行完整、快速的测试，为企业节约成本。

技术领域

本发明属于存储器测试领域，尤其涉及一种基于Matlab的Nand Flash测试系统及方法。

背景技术

随着当前存储技术的快速发展和存储市场的高速扩大，Flash型存储器的用量也急巨增长。Nand Flash芯片以其容量大、读写速度快、价格低廉等绝对优势迅速崛起，在移动存储和大数据存储业务中得到广泛的应用。市场的需求催生了一大批Flash芯片研发、生产型企业，为了保证自己出品的芯片能长期可靠的工作，这些企业都在其产品出厂前做了高速、细致的测试，但是对于应用型企业来说，他们惯用的测试方法依赖Flash控制器厂商提供的评估板或测试平台。面对林立的控制器厂商连同他们各色的评估板或测试平台，如何快捷、高效、可靠的测试自己拿到的Nand Flash芯片不再是那么简单的事情。

发明内容

本发明旨在解决上述问题，提供一种基于Matlab能对各类封装、各种型号的主流Nand Flash完成读、写、擦除测试的系统及方法。

本发明所述的基于Matlab的Nand Flash测试系统，包括测试板和设置于计算机的Matlab测试模块；所述测试板包括存储模块、测试座、FPGA模块和通讯接口；所述存储模块、测试座和通讯接口均与FPGA模块相连接；所述通讯接口与Matlab测试模块相连接，完成信息交互。

本发明所述的基于Matlab的Nand Flash测试系统，所述测试座为BGA-132封装或BGA-152封装或TSOP-48封装或TLGA-52封装。

本发明所述的基于Matlab的Nand Flash测试系统，所述存储模块为DDR3 SDRAM。

本发明所述的基于Matlab的Nand Flash测试系统，所述通讯接口为USB2.0总线接口。

本发明所述基于Matlab的Nand Flash测试系统的测试方法， Matlab测试模块内置P文件库和M文件库；Matlab测试模块包括调用模块和运行模块；

调用模块用于调用FPGA通过测试座获取到的Nand Flash信息、测试数据；

运行模块用于根据调用模块所形成的测试信息对Nand Flash进行数据分析、可视化显示的测试操作；

具体包括如下步骤：

（1）Matlab测试模块的调用模块调用P文件库和M文件库信息； P文件库信息和M文件库信息组成测试文件库；

（2）Matlab测试模块将工作空间设置为测试文件库所在地址；并调用自检指令，生成所测Nand Flash基本信息库；

（3）将待测试的Nand Flash通过测试座与测试板相连接，上电；

（4）Matlab测试模块和测试板建立通信链路，FPGA自动装载相关配置指令；

（5）运行模块按照测试目标开始测试流程至测试完成。