[发明专利]一种单芯片平行位置的确定方法

摘要

本发明提供一种单芯片平行位置的确定方法，包括以下步骤：步骤1，确定图像模板及图像模板对准点的坐标；步骤2，通过图像模板找到对应位置的芯片图像；步骤3，根据图像模板对准点的坐标和芯片图像对准点的坐标对比得到芯片图像与图像模板的角度偏差值和芯片图像对准点与图像模板对准点坐标的偏差值,以得到芯片图像对准点A的坐标A(m，n)及对准点A在坐标系中的角度β；步骤4，根据角度偏差值和芯片图像对准点A的坐标偏差值得出芯片图像对准点旋转至平行位置时芯片图像对准点坐标B(x，y)。根据本发明的实施例能够在任一对准点进行拉直计算，方便快捷的确定芯片的平行位置，减少了对准时间，提高了对准精度。

主权项

1.一种单芯片平行位置的确定方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，确定图像模板及图像模板对准点的坐标；步骤2，通过所述图像模板找到对应位置的芯片图像；步骤3，根据所述图像模板对准点的坐标和所述芯片图像对准点的坐标对比得到所述芯片图像与所述图像模板的角度偏差值和所述芯片图像对准点与图像模板对准点坐标的偏差值,以得到所述芯片图像对准点A的坐标A(m，n)及对准点A在所述坐标系中的角度β；步骤4，根据所述角度偏差值和所述芯片图像对准点A的坐标得出所述芯片图像对准点旋转至平行位置时所述芯片图像对准点B的坐标B(x,y)。