[发明专利]基于栅极腐蚀形貌和电子返流的离子推力器寿命评估方法有效
| 申请号： | 201711387841.2 | 申请日： | 2017-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN108280253B | 公开（公告）日： | 2020-07-14 |
| 发明（设计）人： | 王宗仁;王敏;林逢春;王珏;吴继峰 | 申请（专利权）人： | 中国空间技术研究院 |
| 主分类号： | G01M99/00 | 分类号： | G01M99/00;G06F30/20;G06F119/04 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 武莹 |
| 地址： | 100194 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 基于栅极腐蚀形貌和电子返流的离子推力器寿命评估方法，首先采集加速栅下游表面凹槽腐蚀深度、加速栅栅孔直径，建立栅极腐蚀退化模型，并确定栅极腐蚀退化模型参数，并得到栅极腐蚀拟合退化模型，然后预估离子推力器寿命，采集不同试验时间下电子返流极限电压数据，建立电子返流极限电压退化模型，确定栅极腐蚀退化模型参数，并得到栅极腐蚀拟合退化模型，进而预估离子推力器寿命，最后综合评估离子推力器寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 栅极 腐蚀 形貌 电子 离子 推力 寿命 评估 方法 | ||
【主权项】：
1.基于栅极腐蚀形貌和电子返流的离子推力器寿命评估方法，其特征在于包括如下步骤：步骤一，采集加速栅下游表面凹槽腐蚀深度、加速栅栅孔直径；步骤二，建立栅极腐蚀退化模型；步骤三，确定栅极腐蚀退化模型参数，并得到栅极腐蚀拟合退化模型；步骤四，预估离子推力器寿命；步骤五，采集不同试验时间下电子返流极限电压数据；步骤六，建立电子返流极限电压退化模型；步骤七，确定栅极腐蚀退化模型参数，并得到栅极腐蚀拟合退化模型；步骤八，预估离子推力器寿命；步骤九，综合评估离子推力器寿命。
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