[发明专利]基于栅极腐蚀形貌和电子返流的离子推力器寿命评估方法有效
申请号: | 201711387841.2 | 申请日: | 2017-12-20 |
公开(公告)号: | CN108280253B | 公开(公告)日: | 2020-07-14 |
发明(设计)人: | 王宗仁;王敏;林逢春;王珏;吴继峰 | 申请(专利权)人: | 中国空间技术研究院 |
主分类号: | G01M99/00 | 分类号: | G01M99/00;G06F30/20;G06F119/04 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 武莹 |
地址: | 100194 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 栅极 腐蚀 形貌 电子 离子 推力 寿命 评估 方法 | ||
1.基于栅极腐蚀形貌和电子返流的离子推力器寿命评估方法,其特征在于包括如下步骤:
步骤一,采集加速栅下游表面凹槽腐蚀深度、加速栅栅孔直径;
步骤二,根据加速栅下游表面凹槽腐蚀深度、加速栅栅孔直径,建立栅极腐蚀退化模型;
步骤三,确定栅极腐蚀退化模型参数,并根据栅极腐蚀退化模型得到栅极腐蚀拟合退化模型;
步骤四,根据栅极腐蚀拟合退化模型预估基于栅极腐蚀的离子推力器寿命;
步骤五,采集不同试验时间下电子返流极限电压数据;
步骤六,根据不同试验时间下电子返流极限电压数据建立电子返流极限电压退化模型;
步骤七,确定栅极腐蚀退化模型参数,并根据电子返流极限电压退化模型得到栅极腐蚀拟合退化模型;
步骤八,根据栅极腐蚀拟合退化模型预估基于电子返流极限电压退化的离子推力器寿命;
步骤九,综合评估得到的离子推力器寿命。
2.根据权利要求1所述的基于栅极腐蚀形貌和电子返流的离子推力器寿命评估方法,其特征在于:所述的加速栅下游表面凹槽腐蚀深度d(t)为离子推力器栅极中心区域3个栅孔的平均凹槽腐蚀深度的最大值,其中dij(t)为第i个栅孔与周围第j个相邻栅孔的凹槽腐蚀深度,i=1,2,…,nd,nd≥3,j=1,2,…,6;加速栅栅孔直径D(t)为中心区域3个栅孔的直径的平均值,其中Di(t)为第i个栅孔的栅孔直径,i=1,2,…,nD,nD≥3。
3.根据权利要求2所述的基于栅极腐蚀形貌和电子返流的离子推力器寿命评估方法,其特征在于:所述的栅极腐蚀退化模型包括点火工作时间t时刻对应的加速栅下游表面凹槽腐蚀深度d(t)、点火工作时间t时刻对应的加速栅栅孔直径D(t),其中
d(t)=d0+bdt+εd,
D(t)=D0+bDt+εD,
d0为加速栅下游表面凹槽腐蚀深度的初始值;
bd为加速栅下游表面凹槽腐蚀深度的线性变化速率;
D0为加速栅栅孔直径的初始值;
bD为加速栅栅孔直径的线性变化速率;
εd为均值为0、方差为的随机误差;
εD为均值为0、方差为的随机误差。
4.根据权利要求3所述的基于栅极腐蚀形貌和电子返流的离子推力器寿命评估方法,其特征在于:所述的确定栅极腐蚀退化模型参数,并根据栅极腐蚀退化模型得到栅极腐蚀拟合退化模型的方法包括:
得到时刻t对应的性能参数y(t)=y0+b·x(t)+ε,ε~N(0,σ2),y0为性能参数初始值,b为退化速率,x(t)为时间t的已知函数,ε为均值为0、方差为σ2的随机误差;
tj时刻检测性能数据,获得一组退化数据(yj,xj),j=1,2,…,p,得到栅极腐蚀拟合退化模型为
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国空间技术研究院,未经中国空间技术研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711387841.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。