[发明专利]一种低耗受热历史显示器及其制备和使用方法在审
申请号: | 201711380117.7 | 申请日: | 2017-12-20 |
公开(公告)号: | CN108107023A | 公开(公告)日: | 2018-06-01 |
发明(设计)人: | 赵华;张景文 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G01N21/59 | 分类号: | G01N21/59;C04B35/491;C04B35/50;C04B35/472;C04B35/465 |
代理公司: | 哈尔滨市文洋专利代理事务所(普通合伙) 23210 | 代理人: | 王艳萍 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 一种低耗受热历史显示器及其制备和使用方法,它涉及受热历史显示器及其制备和使用方法。它是要解决现有技术中监控物品受热历史成本高,稳定性低的技术问题。低耗受热历史显示器由下底薄膜、上底薄膜和多块弛豫铁电陶瓷片组成或者由多块透明弛豫铁电陶瓷片组成;制法:制备一系列不同居里温度的弛豫铁电陶瓷体块,切割抛光的陶瓷片,曝光后即为受热历史显示器,或者依照其居里温度的顺序粘在下底薄膜上,覆上底薄膜即得。使用时先将低耗受热历史显示器在不同温度、时间下放置,得到漂白分布或透射率与温度、时间对应关系的数据表或比照卡;测试后根据陶瓷阵列的漂白分布或透射率,从数据表查或与比照卡对照,得出被测物体的受热历史。 | ||
搜索关键词: | 受热历史 显示器 制备 薄膜 弛豫铁电陶瓷 透射率 漂白 多块 被测物体 监控物品 切割抛光 陶瓷阵列 陶瓷片 体块 制法 下放 测试 曝光 透明 | ||
【主权项】:
1.一种低耗受热历史显示器,其特征在于该漫反射式低耗受热历史显示器由下底薄膜(1)、上底薄膜(2)和多块弛豫铁电陶瓷片(3)组成;其中多块弛豫铁电陶瓷片(3)排列成一维阵列或二维阵列,一维阵列是按照弛豫铁电陶瓷片的居里温度从低到高或从高到低的顺序排列的;二维阵列中各行从左至右弛豫铁电陶瓷片的居里温度从低到高,二维阵列中相邻两行的下一行的第一片弛豫铁电陶瓷片的居里温度高于前一行的任意一片;同时多块弛豫铁电陶瓷片(3)是经过波长为300nm~450nm的超带隙的紫外光至近带隙的短波可见光曝光处理过的;弛豫铁电陶瓷片(3)粘贴在下底薄膜(1)上;上底薄膜(2)覆盖在多块弛豫铁电陶瓷片(3)之上;下底薄膜(1)和上底薄膜(2)导热且对紫外光和可见光不通透。
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