[发明专利]一种低耗受热历史显示器及其制备和使用方法在审
申请号: | 201711380117.7 | 申请日: | 2017-12-20 |
公开(公告)号: | CN108107023A | 公开(公告)日: | 2018-06-01 |
发明(设计)人: | 赵华;张景文 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G01N21/59 | 分类号: | G01N21/59;C04B35/491;C04B35/50;C04B35/472;C04B35/465 |
代理公司: | 哈尔滨市文洋专利代理事务所(普通合伙) 23210 | 代理人: | 王艳萍 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 受热历史 显示器 制备 薄膜 弛豫铁电陶瓷 透射率 漂白 多块 被测物体 监控物品 切割抛光 陶瓷阵列 陶瓷片 体块 制法 下放 测试 曝光 透明 | ||
一种低耗受热历史显示器及其制备和使用方法,它涉及受热历史显示器及其制备和使用方法。它是要解决现有技术中监控物品受热历史成本高,稳定性低的技术问题。低耗受热历史显示器由下底薄膜、上底薄膜和多块弛豫铁电陶瓷片组成或者由多块透明弛豫铁电陶瓷片组成;制法:制备一系列不同居里温度的弛豫铁电陶瓷体块,切割抛光的陶瓷片,曝光后即为受热历史显示器,或者依照其居里温度的顺序粘在下底薄膜上,覆上底薄膜即得。使用时先将低耗受热历史显示器在不同温度、时间下放置,得到漂白分布或透射率与温度、时间对应关系的数据表或比照卡;测试后根据陶瓷阵列的漂白分布或透射率,从数据表查或与比照卡对照,得出被测物体的受热历史。
技术领域
本发明涉及一种受热历史显示器及其制备方法。
背景技术
监测某些商品或用品的受热历史,可以辅助判断其受到极端温度的负面影响。这些商品或用品可包括药品、血浆、食品、电子产品等。现有的能够在恶劣环境下无线操作的受热历史传感器,可记录微晶玻璃基板阵列中受热历史的特征。通过测量玻璃陶瓷基板的透光率,可在曝光后通过读取透射信息而了解受热历史。然后,模式匹配算法可以通过与已知特征指标数据库相比较来识别与相关指标对应的受热历史。但该种方法不能重复使用。且成本相对较高。
而用数字方法记录热历史,是目前监测受热历史技术中的简单方法,但是存在昂贵,过于笨重,占空比较大,不利于在一些条件下使用的问题。另外还有许多其他技术可以记录热历史,但成本都较高。热致变色物质由于温度的变化有改变颜色的能力。现有的两个基本的方法是基于液晶和无色染料。虽然这些效应可以用来及时读取温度数据,但它必须与其他技术相结合,或者需要特定的设计来显示热历史。目前急需一种简便易行,成本低廉的监测设备和方法。
发明内容
本发明为解决现有技术中监控物品受热历史成本高,稳定性低的问题,进而提出一种低耗受热历史显示器及其制备和使用方法。
本发明的低耗受热历史显示器有漫反射式低耗受热历史显示器和透射式低耗受热历史显示器两种。
本发明的漫反射式低耗受热历史显示器由下底薄膜1、上底薄膜2和多块弛豫铁电陶瓷片3组成;其中多块弛豫铁电陶瓷片3排列成一维阵列或二维阵列,一维阵列是按照弛豫铁电陶瓷的居里温度从低到高或从高到低的顺序排列的;二维阵列中各行从左至右弛豫铁电陶瓷片的居里温度从低到高,二维阵列中相邻两行的下一行的第一片弛豫铁电陶瓷片的居里温度高于前一行的任意一片;同时多块弛豫铁电陶瓷片3是用波长为300nm~450nm的紫外光和可见光进行曝光处理后的;弛豫铁电陶瓷片3粘贴在下底薄膜1上;上底薄膜2覆盖在多块弛豫铁电陶瓷片3之上;下底薄膜1和上底薄膜2导热且对紫外光和可见光不通透。
进一步地,所述的弛豫铁电陶瓷体片3为非透明的弛豫铁电陶瓷或透明的弛豫铁电陶瓷,其中非透明的弛豫铁电陶瓷为锆钛酸铅铁电陶瓷Pb(Zr1-xTix)O
所述透明的弛豫铁电陶瓷为锆钛铌镱酸铅镧Pb
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