[发明专利]一种面向第三代半导体材料的加工装置有效
申请号: | 201711351566.9 | 申请日: | 2017-12-15 |
公开(公告)号: | CN107910284B | 公开(公告)日: | 2018-10-12 |
发明(设计)人: | 陈云;陈新;麦锡全;高健;汪正平;杨海东 | 申请(专利权)人: | 广东工业大学;佛山市南海区广工大数控装备协同创新研究院 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/02 |
代理公司: | 佛山市禾才知识产权代理有限公司 44379 | 代理人: | 史亮亮 |
地址: | 510062 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种面向第三代半导体材料的加工装置,包括反应装置、操作台和支撑装置;反应装置的内部为反应腔,且上下两端盖有上盖和下盖;反应腔的侧壁设有刻蚀液注入口和刻蚀液排出口;反应腔内部设有搅拌励磁线圈、导电棒、加热棒、密封圈和工件;搅拌励磁线圈安装于上盖的正下方;导电棒和加热棒分别呈圆周对称紧贴于反应腔的腔壁内;密封圈设有两件,安装于反应腔的底部,并且密封圈套接于下盖内;工件安装于两个密封圈之间;上盖的中间开设有第一通孔;反应腔的底部、密封圈和下盖的中间均开设有同轴度的第二通孔;本发明提出的加工装置,克服难以高效地在第三代半导体材料上加工出规则的纳米微结构的问题,实现第三代半导体材料高效可控加工。 | ||
搜索关键词: | 一种 面向 第三代 半导体材料 加工 装置 | ||
【主权项】:
1.一种面向第三代半导体材料的加工装置,其特征在于:包括反应装置、操作台和支撑装置;所述反应装置为圆柱形盒体,该圆柱形盒体内部为反应腔,并且所述圆柱形盒体的上下两端盖有上盖和下盖;所述反应腔的侧壁设置有刻蚀液注入口和刻蚀液排出口,所述刻蚀液注入口位于所述刻蚀液排出口上方,所述刻蚀液排出口与所述反应腔底部平面相切;所述反应腔的内部还设置有搅拌励磁线圈、导电棒、加热棒、密封圈和工件;所述搅拌励磁线圈安装于所述上盖的正下方;所述导电棒和所述加热棒分别呈圆周对称紧贴安装于所述反应腔的腔壁内,并且相互间隔分布;所述密封圈设有两件,安装于所述反应腔的底部,并且所述密封圈通过所述下盖内面对应开设的卡槽套接于所述下盖内;所述工件安装于两个所述密封圈之间;所述上盖的中间开设有第一通孔;所述反应腔的底部、所述密封圈和所述下盖的中间均开设有同轴度的第二通孔;所述反应装置竖直安装于所述支撑装置的中部,并且由其两端的第一通孔、第二通孔与所述操作台电气连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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