[发明专利]一种筛选光模块退化的检测方法和装置

摘要

本发明涉及光模块检测技术领域，提供了一种筛选光模块退化的检测方法和装置。其中方法包括在进行老化测试前，给予光模块中激光器预设的驱动信号，采集光模块驱动电路的激光器驱动电压值Vf0；在完成老化过程后，再次给予光模块中激光器相同的预设的驱动信号，采集光模块驱动电路的激光器驱动电压值Vf1；若电压值Vf1与电压值Vf0相差超过预设阈值△V，则反馈激光器退化信息。本发明通过对光模块中激光器工作状态的监控和控制，除了直观的发光变化和背光变化进行筛选外，本发明增加了激光器芯片的V‑I特性进行进一步的检测和筛选，可进一步将一些潜在的失效模块筛选出去，从而提高光模块检测筛选的有效性和全面性。

主权项

1.一种筛选光模块退化的检测方法，其特征在于，对待老化测试的光模块中的激光器管脚进行电压采样，所述方法包括：在进行老化测试前，给予光模块中激光器预设的驱动信号，采集光模块驱动电路的激光器驱动电压值Vf0；在完成老化过程后，再次给予光模块中激光器相同的所述预设的驱动信号，采集光模块驱动电路的激光器驱动电压值Vf1；若所述电压值Vf1与所述电压值Vf0相差超过预设阈值△V，则反馈激光器退化信息。