[发明专利]一种筛选光模块退化的检测方法和装置

权利要求书

1.一种筛选光模块退化的检测方法，其特征在于，对待老化测试的光模块中的激光器管脚进行电压采样，所述方法包括：

在进行老化测试前，给予光模块中激光器预设的驱动信号，采集光模块驱动电路的激光器驱动电压值V_f0；

在完成老化过程后，再次给予光模块中激光器相同的所述预设的驱动信号，采集光模块驱动电路的激光器驱动电压值V_f1；

若所述电压值V_f1与所述电压值V_f0相差超过预设阈值△V，则反馈激光器退化信息；

所述方法具体包括：

在完成老化过程后，首先测试正向光的发光效率或者阈值电流是否劣化和/或，通过MPD芯片接收到发射端激光器的背向发光，将接收到的背向光转换为光电流，再通过串联电阻转换为电压信号V_背1，将所述电压信号V_背1与老化过程前的初始值V_背0进行比较，并根据差值是否超过设定值，判断激光器是否已退化；

若上述通过正向光和/或通过背向发光判断结果为激光器未退化，再通过所述电压值V_f1与所述电压值V_f0是否相差超过预设阈值，来判断激光器是否退化。

2.根据权利要求1所述的筛选光模块退化的检测方法，其特征在于，所述给予光模块中激光器预设的驱动信号，具体是通过电压驱动芯片或者电流驱动芯片实现，其中，直接量测激光器管芯正极和负极两端的电压差，即可采样到所述V_f1值。

3.根据权利要求1所述的筛选光模块退化的检测方法，其特征在于，对于10G 850nm的VCSEL芯片，其初始电压V_f0为1.9～2.2V，其老化后电压V_f1为1.9～2.3V。

4.根据权利要求3所述的筛选光模块退化的检测方法，其特征在于，预设阈值具体是△V为0.2-0.5V时，可判断激光器芯片异常或退化。

5.根据权利要求1所述的筛选光模块退化的检测方法，其特征在于，所述光模块具体为单通道收模块；或者，多通道并行光模块；

其中，在多通道并行光模块中，需要对每一个通道的激光器进行分别监控。