[发明专利]腔体滤波器精准测量品质因数的方法

摘要

本发明公开了腔体滤波器精准测量品质因数的方法,包括腔体滤波器、矢量网络分析仪、第一探针和第二探针；首先对矢量网络分析仪进行校准；将第一探针与腔体滤波器内部的第一馈口连接，将第二探针与腔体内部的第二馈口连接；将第一馈口与矢量网络分析仪的第一端口连接，将第二馈口与矢量网络分析仪的第二端口连接；本发明通过引入第一探针、第二探针，可以人为的调节阻抗匹配状态，规避了部分外界干扰引入的误差，提高了测量的准确度；从而通过本发明中的方法可以实现对于腔体滤波器的有载品质因数和无载品质因素的精准测量；不会出现用传输法测量时“由于受到一些固定的和变化的物理量的影响，测量精度不高”的问题。

主权项

1.腔体滤波器精准测量品质因数的方法,其特征在于，包括腔体滤波器、矢量网络分析仪、第一探针和第二探针；所述方法包括如下步骤：步骤1：对矢量网络分析仪进行校准；步骤2：将第一探针与腔体滤波器内部的第一馈口连接，将第二探针与腔体内部的第二馈口连接；步骤3：将第一馈口与矢量网络分析仪的第一端口连接，将第二馈口与矢量网络分析仪的第二端口连接；步骤4：调节第一探针，使反射系数Smith圆图处于阻抗匹配，反射系数S<-30dB；步骤5：调节第二探针，使反射系数Smith圆图处于阻抗匹配，反射系数S<-30dB；步骤6：调节第一探针、第二探针，使工作频点的传输系数S>-0.dB；步骤7：通过矢量网络分析仪读取传输系数S最大值点f1，S下降3dB点f2和f3，通过特定公式求得有载品质因数Qload；步骤8：调节第一探针，使反射系数Smith圆图处于欠匹配，反射系数S>-0.5dB；步骤9：调节第二探针，使反射系数Smith圆图处于欠匹配，反射系数S>-0.5dB；步骤10：调节第一探针、第二探针，使工作频点传输系数S<-30dB；步骤11：通过矢量网络分析仪读取传输系数S最大值点f1，S下降3dB点f2和f3，根据特定公式求得无载品质因数Qload。