[发明专利]腔体滤波器精准测量品质因数的方法在审
申请号: | 201711318699.6 | 申请日: | 2017-12-12 |
公开(公告)号: | CN108051652A | 公开(公告)日: | 2018-05-18 |
发明(设计)人: | 陈根;龙嘘云;赵燕平;张鑫;尉传颂;刘广;宋云涛;陈永华;杨庆喜 | 申请(专利权)人: | 合肥中科离子医学技术装备有限公司 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 | 代理人: | 胡剑辉 |
地址: | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 滤波器 精准 测量 品质因数 方法 | ||
1.腔体滤波器精准测量品质因数的方法,其特征在于,包括腔体滤波器、矢量网络分析仪、第一探针和第二探针;
所述方法包括如下步骤:
步骤1:对矢量网络分析仪进行校准;
步骤2:将第一探针与腔体滤波器内部的第一馈口连接,将第二探针与腔体内部的第二馈口连接;
步骤3:将第一馈口与矢量网络分析仪的第一端口连接,将第二馈口与矢量网络分析仪的第二端口连接;
步骤4:调节第一探针,使反射系数Smith圆图处于阻抗匹配,反射系数S<-30dB;
步骤5:调节第二探针,使反射系数Smith圆图处于阻抗匹配,反射系数S<-30dB;
步骤6:调节第一探针、第二探针,使工作频点的传输系数S>-0.dB;
步骤7:通过矢量网络分析仪读取传输系数S最大值点f1,S下降3dB点f2和f3,通过特定公式求得有载品质因数Qload;
步骤8:调节第一探针,使反射系数Smith圆图处于欠匹配,反射系数S>-0.5dB;
步骤9:调节第二探针,使反射系数Smith圆图处于欠匹配,反射系数S>-0.5dB;
步骤10:调节第一探针、第二探针,使工作频点传输系数S<-30dB;
步骤11:通过矢量网络分析仪读取传输系数S最大值点f1,S下降3dB点f2和f3,根据特定公式求得无载品质因数Qload。
2.根据权利要求1所述的腔体滤波器精准测量品质因数的方法,其特征在于,所述探针用于人为调节阻抗匹配的状态,规避部分外界干扰引入的误差。
3.根据权利要求1所述的腔体滤波器精准测量品质因数的方法,其特征在于,所述步骤7和步骤11中的特定公式为
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