[发明专利]一种元器件空间辐射效应探测装置在审
| 申请号： | 201711287554.4 | 申请日： | 2017-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN108169785A | 公开（公告）日： | 2018-06-15 |
| 发明（设计）人： | 李璟璟;邵思霈;任文冠;王博;胡喜庆;郝晓云;潘睿元;肖婷;刘金胜;刘泳;王月;张玉兔;王世金 | 申请（专利权）人： | 山东航天电子技术研究所;北京天工科仪空间技术有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/24 | 分类号： | G01T1/24 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人： | 仇蕾安;付雷杰 |
| 地址： | 264003 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种元器件空间辐射效应探测装置，增加了辐射环境探头，在进行电子元器件在轨实验的同时，实时获取当前位置处的空间辐射环境信息。本发明结合实时测量的空间辐射环境对被测元器件进行考核，提高了电子元器件空间环境适应性评估的精准度。 1 | ||
| 搜索关键词： | 元器件 空间辐射环境 电子元器件 空间辐射 探测装置 适应性评估 辐射环境 空间环境 实时测量 实时获取 精准度 位置处 探头 考核 | ||
【主权项】：
1.一种元器件空间辐射效应探测装置，其特征在于，所述探测装置包括辐射环境探头、元器件探测模块、放大模块、控制模块、电源模块及机壳；
所述辐射环境探头用于探测空间辐射环境信息，并传输给放大模块；所述元器件探测模块用于探测被测元器件的电压、电流及单粒子效应信息，并传输给放大模块；所述辐射环境探头和元器件探测模块平行设置在机壳内部上方；
所述放大模块与辐射环境探头和元器件探测模块一一对应，包括探头放大模块和元器件放大模块；探头放大模块用于放大处理空间辐射环境信息并识别出有效粒子事件，然后传输给控制模块；元器件放大模块用于放大处理电压、电流及单粒子效应信息并传输给控制模块；
所述控制模块根据放大处理后的电压、电流及单粒子效应信息识别有效单粒子效应信息并控制元器件探测模块正常工作，同时将采集的放大模块的输出信息传输给外部卫星平台；
所述电源模块为元器件探测模块、放大模块及控制模块供压，同时为辐射环境探头独立供压。
2.如权利要求1所述的元器件空间辐射效应探测装置，其特征在于，所述辐射环境探头包括LET探头和质子探头。3.如权利要求2所述的元器件空间辐射效应探测装置，其特征在于，所述LET探头包括低LET探头和高LET探头。4.如权利要求3所述的元器件空间辐射效应探测装置，其特征在于，所述低LET探头、高LET探头和质子探头分别与对应的放大模块相连。
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