[发明专利]一种元器件空间辐射效应探测装置

说明书

本发明公开了一种元器件空间辐射效应探测装置，增加了辐射环境探头，在进行电子元器件在轨实验的同时，实时获取当前位置处的空间辐射环境信息。本发明结合实时测量的空间辐射环境对被测元器件进行考核，提高了电子元器件空间环境适应性评估的精准度。

技术领域

本发明涉及空间环境探测技术领域，具体涉及一种电子元器件与空间辐射环境探测相结合的装置。

背景技术

国产电子元器件的在轨验证是航天搭载实验的重要任务之一。电子元器件在轨验证主要目的是考核在空间辐射环境中，电子元器件的抗辐射性能。例如在我国卫星中搭载的空间辐射效应实验单元，考核在空间辐射作用下，电子元器件的空间适应性，从而为未来电子元器件在轨应用评估做出支持。在实验装置的设计中，主要围绕被测器件进行检测电路设计，检测电路能够实时检测到被测器件的电压、电流、单粒子翻转等情况。这也是目前元器件实验装置的主流设计方法。由于空间不同位置、不同时间的空间辐射环境往往是不同的，该方法仅对空间辐射条件下的电子元器件进行考核，而未能结合在轨空间环境信息，因此，考核结果具有一定的不准确度。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种元器件空间辐射效应探测装置，结合实时测量的空间辐射环境对被测元器件进行考核，提高了电子元器件空间环境适应性评估的精准度。

本发明的具体实施方案如下：

一种元器件空间辐射效应探测装置，所述探测装置包括辐射环境探头、元器件探测模块、放大模块、控制模块、电源模块及机壳；

所述辐射环境探头用于探测空间辐射环境信息，并传输给放大模块；所述元器件探测模块用于探测被测元器件的电压、电流及单粒子效应信息，并传输给放大模块；所述辐射环境探头和元器件探测模块平行设置在机壳内部上方；

所述放大模块与辐射环境探头和元器件探测模块一一对应，，包括探头放大模块和元器件放大模块；探头放大模块用于放大处理空间辐射环境信息并识别出有效粒子事件，然后传输给控制模块；元器件放大模块用于放大处理电压、电流及单粒子效应信息并传输给控制模块；

所述控制模块根据放大处理后的电压、电流及单粒子效应信息识别有效单粒子效应信息并控制元器件探测模块正常工作，同时将采集的放大模块的输出信息传输给外部卫星平台；

所述电源模块为元器件探测模块、放大模块及控制模块供压，同时为辐射环境探头独立供压。

进一步地，所述辐射环境探头包括LET探头和质子探头。

进一步地，所述LET探头包括低LET探头和高LET探头。

进一步地，所述低LET探头、高LET探头和质子探头分别与对应的放大模块相连。

有益效果：

1、本发明增加了辐射环境探头，解决了电子元器件空间辐射效应验证与空间真实辐射环境相结合的问题，提高了电子元器件空间环境适应性评估的精准度，为电子元器件空间适应性评估提供了新的载体；除满足元器件验证需求外，还可以满足空间辐射环境科学探测的需求。同时，辐射环境探头与放大模块相互独立，体积小，便于安装。

2、本发明LET探头包括低LET探头和高LET探头，采用不同的探头探测不同谱段，使探测结果更为精确。

3、本发明LET探头和质子探头结构独立，分别与对应的放大模块相连，体积小，且便于安装调试。

附图说明

图1为本发明的构成示意图；

图2为本发明的结构立体图；

图3为图2不同视角的结构立体图；

图4为本发明的侧视图；

图5为本发明的俯视图；