[发明专利]SPI-NAND的测试方法和装置在审
| 申请号： | 201711284157.1 | 申请日： | 2017-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN107977292A | 公开（公告）日： | 2018-05-01 |
| 发明（设计）人： | 庄开锋 | 申请（专利权）人： | 北京兆易创新科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/263 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种SPI‑NAND的测试方法和装置。本发明SPI‑NAND的测试方法，包括接收测试指令，所述测试指令包括测试案例的编号和相应的测试参数，所述测试案例和各所述测试案例对应的所述测试参数是预先根据被测对象的测试需求设置的；根据所述测试指令调用所述测试案例的编号对应的测试代码对所述SPI‑NAND进行测试，其中，以所述测试参数作为所述测试代码的入参，所述测试代码是预先根据所述测试案例生成的；根据所述测试代码的运行结果输出测试结果。本发明实现对SPI‑NAND的多测试案例的灵活组合，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | spi nand 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种SPI‑NAND的测试方法，其特征在于，包括：接收测试指令，所述测试指令包括测试案例的编号和相应的测试参数，所述测试案例和各所述测试案例对应的所述测试参数是预先根据被测对象的测试需求设置的；根据所述测试指令调用所述测试案例的编号对应的测试代码对所述SPI‑NAND进行测试，其中，以所述测试参数作为所述测试代码的入参，所述测试代码是预先根据所述测试案例生成的；根据所述测试代码的运行结果输出测试结果。
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