[发明专利]SPI-NAND的测试方法和装置在审
| 申请号： | 201711284157.1 | 申请日： | 2017-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN107977292A | 公开（公告）日： | 2018-05-01 |
| 发明（设计）人： | 庄开锋 | 申请（专利权）人： | 北京兆易创新科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/263 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | spi nand 测试 方法 装置 | ||
1.一种SPI-NAND的测试方法，其特征在于，包括：
接收测试指令，所述测试指令包括测试案例的编号和相应的测试参数，所述测试案例和各所述测试案例对应的所述测试参数是预先根据被测对象的测试需求设置的；
根据所述测试指令调用所述测试案例的编号对应的测试代码对所述SPI-NAND进行测试，其中，以所述测试参数作为所述测试代码的入参，所述测试代码是预先根据所述测试案例生成的；
根据所述测试代码的运行结果输出测试结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述接收测试指令之前，还包括：
通过与所述计算机进行信息交互，确定所述测试案例的编号和所述测试参数的传输格式。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述与计算机进行通信交互确定所述测试案例的编号和所述测试参数的传输格式之前，还包括：
接收工程文件，所述工程文件包括所述测试案例的测试代码。
4.一种SPI-NAND的测试装置，其特征在于，包括：
接收模块，用于接收测试指令，所述测试指令包括测试案例的编号和相应的测试参数，所述测试案例和各所述测试案例对应的所述测试参数是预先根据被测对象的测试需求设置的；
测试模块，用于根据所述测试指令调用所述测试案例的编号对应的测试代码对所述SPI-NAND进行测试，其中，以所述测试参数作为所述测试代码的入参，所述测试代码是预先根据所述测试案例生成的；
输出模块，用于根据所述测试代码的运行结果输出测试结果。
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，还包括：
通信模块，用于通过与所述计算机进行信息交互，确定所述测试案例的编号和所述测试参数的传输格式。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述接收模块，还用于接收工程文件，所述工程文件包括所述测试案例的测试代码。
7.一种存储设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1-3中任一所述的SPI-NAND的测试方法。
8.一种包含存储设备可执行指令的存储介质，所述存储设备可执行指令在由存储设备处理器执行时用于执行一种SPI-NAND的测试方法，其特征在于，该方法包括：
接收测试指令，所述测试指令包括测试案例的编号和相应的测试参数，所述测试案例和各所述测试案例对应的所述测试参数是预先根据被测对象的测试需求设置的；
根据所述测试指令调用所述测试案例的编号对应的测试代码对所述SPI-NAND进行测试，其中，以所述测试参数作为所述测试代码的入参，所述测试代码是预先根据所述测试案例生成的；
根据所述测试代码的运行结果输出测试结果。
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