[发明专利]磁传感器装置在审
| 申请号： | 201711226134.5 | 申请日： | 2017-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN108445431A | 公开（公告）日： | 2018-08-24 |
| 发明（设计）人： | 太田尚城;猿木俊司 | 申请（专利权）人： | TDK株式会社 |
| 主分类号： | G01R33/09 | 分类号： | G01R33/09 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 杨琦;黄浩 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种磁传感器装置，包含多个磁检测元件部和多个运算处理部，即使在该运算处理部中发生计算出错误的物理量的异常情况时，也能够迅速地把握该异常，因而可靠性高。其包括：根据外部磁场的变化而输出第一传感器信号的第一磁检测元件部和输出第二传感器信号的第二磁检测元件部；根据第一传感器信号而计算规定的物理量的第一运算处理部；根据第二传感器信号而计算规定的物理量的第二运算处理部；和将至少第一磁检测元件部和第二磁检测元件部作为一体而封装的封装部，第一运算处理部根据第一运算算法而计算物理量，第二运算处理部根据与第一运算算法不同种类的第二运算算法来计算与由第一运算处理部计算的物理量相同种类的物理量。 | ||
| 搜索关键词： | 运算处理部 物理量 磁检测元件 运算算法 磁传感器装置 第二传感器 第一传感器 外部磁场 输出 封装部 封装 | ||
【主权项】：
1.一种磁传感器装置，其特征在于，具备：根据外部磁场的变化而输出第一传感器信号的第一磁检测元件部；根据外部磁场的变化而输出第二传感器信号的第二磁检测元件部；根据所述第一传感器信号而计算规定的物理量的第一运算处理部；根据所述第二传感器信号而计算规定的物理量的第二运算处理部；和将至少所述第一磁检测元件部和所述第二磁检测元件部作为一体而进行封装的封装部，所述第一运算处理部根据第一运算算法计算所述物理量，所述第二运算处理部根据与所述第一运算算法不同种类的第二运算算法，计算与由所述第一运算处理部计算的所述物理量相同种类的所述物理量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于TDK株式会社，未经TDK株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201711226134.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种单工位磁通量测量装置
- 下一篇：高精度浮动电磁铁拉力测试装置及其方法
