[发明专利]磁传感器装置在审

专利信息
申请号: 201711226134.5 申请日: 2017-11-20
公开(公告)号: CN108445431A 公开(公告)日: 2018-08-24
发明(设计)人: 太田尚城;猿木俊司 申请(专利权)人: TDK株式会社
主分类号: G01R33/09 分类号: G01R33/09
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 杨琦;黄浩
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 运算处理部 物理量 磁检测元件 运算算法 磁传感器装置 第二传感器 第一传感器 外部磁场 输出 封装部 封装
【权利要求书】:

1.一种磁传感器装置,其特征在于,

具备:

根据外部磁场的变化而输出第一传感器信号的第一磁检测元件部;

根据外部磁场的变化而输出第二传感器信号的第二磁检测元件部;

根据所述第一传感器信号而计算规定的物理量的第一运算处理部;

根据所述第二传感器信号而计算规定的物理量的第二运算处理部;和

将至少所述第一磁检测元件部和所述第二磁检测元件部作为一体而进行封装的封装部,

所述第一运算处理部根据第一运算算法计算所述物理量,

所述第二运算处理部根据与所述第一运算算法不同种类的第二运算算法,计算与由所述第一运算处理部计算的所述物理量相同种类的所述物理量。

2.如权利要求1所述的磁传感器装置,其特征在于,

所述第一磁检测元件部和所述第二磁检测元件部均包含磁阻效应元件。

3.如权利要求2所述的磁传感器装置,其特征在于,

所述第一磁检测元件部包含的所述磁阻效应元件与所述第二磁检测元件部包含的所述磁阻效应元件是彼此相同种类的磁阻效应元件。

4.如权利要求3所述的磁传感器装置,其特征在于,

所述第一磁检测元件部包含的所述磁阻效应元件与所述第二磁检测元件部包含的所述磁阻效应元件是根据所述外部磁场的变化而引起的阻值变化的动态彼此不同的磁阻效应元件。

5.如权利要求1~4中任一项所述的磁传感器装置,其特征在于,

还具备:包含所述第一磁检测元件部和所述第一运算处理部的第一磁传感器部;和包含所述第二磁检测元件部和所述第二运算处理部的第二磁传感器部,

所述封装部将所述第一磁传感器部和所述第二磁传感器部作为一体而进行封装。

6.如权利要求1~4中任一项所述的磁传感器装置,其特征在于,

还具备包含所述第一运算处理部和所述第二运算处理部的运算处理部,

所述封装部将所述第一磁检测元件部、所述第二磁检测元件部和所述运算处理部作为一体而进行封装。

7.如权利要求1~4中任一项所述的磁传感器装置,其特征在于,

还具备:根据外部磁场的变化而输出第三传感器信号的第三磁检测元件部;和根据所述第三传感器信号而计算规定的物理量的第三运算处理部,

所述封装部将至少所述第一磁检测元件部、所述第二磁检测元件部和所述第三磁检测元件部作为一体而进行封装,

所述第三运算处理部根据与所述第一运算算法和所述第二运算算法的任一者不同种类的第三运算算法,计算与分别通过所述第一运算处理部和所述第二运算处理部计算的所述物理量相同种类的所述物理量。

8.如权利要求7所述的磁传感器装置,其特征在于,

还具备:包含所述第一磁检测元件部和所述第一运算处理部的第一磁传感器部;包含所述第二磁检测元件部和所述第二运算处理部的第二磁传感器部;和包含所述第三磁检测元件部和所述第三运算处理部的第三磁传感器部;

所述封装部将所述第一磁传感器部、所述第二磁传感器部和所述第三磁传感器部作为一体而进行封装。

9.如权利要求7所述的磁传感器装置,其特征在于,

还具备包含所述第一运算处理部、所述第二运算处理部和所述第三运算处理部的运算处理部,

所述封装部将所述第一磁检测元件部、所述第二磁检测元件部、所述第三磁检测元件部和所述运算处理部作为一体而进行封装。

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