[发明专利]一种近场天线发射单元级测量系统在审
| 申请号： | 201711224841.0 | 申请日： | 2017-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN108008206A | 公开（公告）日： | 2018-05-08 |
| 发明（设计）人： | 胡耀宗;魏凯 | 申请（专利权）人： | 北京无线电测量研究所 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 付生辉 |
| 地址： | 100851*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种近场天线发射单元级测量系统，包括：主控机，用于发送初始化命令；采样架控制器，根据初始化命令控制采样架的运行；波控机，用于数据采集；所述测量系统还包括同步控制器，该同步控制器用于实现采样架控制器和波控机同步。在本发明的系统中，能够避免时间过长导致的环境温差过大使得测量误差较大的问题，从而提高了测试进度和近场测试效率，并且，本发明在现有技术的基础上不需要进行校准环节，大大节约了测量成本和人工成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 近场 天线 发射 单元 测量 系统 | ||
【主权项】：
1.一种近场天线发射单元级测量系统，其特征在于，包括：主控机，用于发送初始化命令；采样架控制器，根据初始化命令控制采样架的运行；波控机，用于数据采集；所述测量系统还包括同步控制器，该同步控制器用于实现采样架控制器和波控机同步。
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