[发明专利]一种近场天线发射单元级测量系统

权利要求书

1.一种近场天线发射单元级测量系统，其特征在于，包括：

主控机，用于发送初始化命令；

采样架控制器，根据初始化命令控制采样架的运行；

波控机，用于数据采集；

所述测量系统还包括同步控制器，该同步控制器用于实现采样架控制器和波控机同步。

2.根据权利要求1所述系统，其特征在于，所述同步控制器接收初始化命令发出第一控制信号，并将该第一控制信号发送至采样架控制器，以控制采样架的运行。

3.根据权利要求1或2所述系统，其特征在于，所述初始化命令包括测试频点、波束、通道及扫描方式的选择命令。

4.根据权利要求1所述系统，其特征在于，所述系统还包括微波仪表，所述微波仪表用于幅相数据采集。

5.根据权利要求1或2所述系统，其特征在于，所述第一控制信号为根据采样架的扫描信号计算出的对应于被扫描的天线阵列单元的行列号。

6.根据权利要求1所述系统，其特征在于，所述同步控制器向所述波控机发出第二控制信号，所述第二控制信号包括中断触发信号和采集触发信号。

7.根据权利要求1所述系统，其特征在于，所述同步控制器通过UDP网络协议向所述波控机发出采集数据。

8.根据权利要求1或7所述系统，其特征在于，所述数据包括测试频点、波束、通道、扫描方式的数据及天线阵列单元的行列号。

9.根据权利要求1所述系统，其特征在于，采样架的运行模式为连续运行模式，所述连续运行模式为每间隔预设步长时通过所述采样架控制器产生到位脉冲。

10.根据权利要求1所述系统，其特征在于，所述同步控制器包括标准(RS232)接口以及以太网(RJ45)接口。