[发明专利]一种焊垫结构的制备工艺有效
申请号: | 201711184324.5 | 申请日: | 2017-11-23 |
公开(公告)号: | CN107968056B | 公开(公告)日: | 2019-12-06 |
发明(设计)人: | 胡小龙;高晶;毛晓明;叶伟 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60 |
代理公司: | 11619 北京辰权知识产权代理有限公司 | 代理人: | 佟林松<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
地址: | 430074 湖北省武汉市洪山区东*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供了一种焊垫结构的制备工艺,通过采用具有高介电常数和优异沟道填充性能的有机聚合物来替代现有技术中的氧化硅钝化层来完成焊垫金属层刻蚀后的沟道填充和覆盖,来保护焊垫金属层来后续工艺不被破坏;因此省略了氧化物钝化层的沉积以及在焊垫金属层刻蚀后移除了顶层的氮化钛吸光层,并后续在露出焊垫金属层表面的步骤中,不再需要进行等离子干法刻蚀以去除氧化物和顶层氮化钛的处理;也因此不再需要后续的合金化处理来消除等离子干法刻蚀引起的PI层电荷集聚,这缩短了后段制备的周期,并大幅度减少了生产成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 结构 制备 工艺 | ||
【主权项】:
1.一种焊垫结构的制备工艺,其特征在于包括以下步骤:/n进行焊垫金属层的沉积,具体为,首先在金属层间介质层的表面依次沉积粘结层、金属层间隔离层、焊垫金属层和具有吸光层及光刻胶层的复合光刻层;/n进行光刻以去除待刻蚀区域的复合光刻层;/n进行刻蚀以形成焊垫金属层间的沟道,并随后去除光刻胶层;/n去除吸光层;/n进行应力缓冲层的沉积,所述应力缓冲层为聚酰亚胺(PI);/n进行光刻以形成焊垫开口;/n进行应力缓冲层的烧烤固化;/n其中,在所述刻蚀以形成焊垫金属层间的沟道步骤之后,不存在形成钝化层的步骤。/n
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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