[发明专利]基于信息熵的集成电路抗故障注入攻击安全评估方法有效
| 申请号： | 201711129019.6 | 申请日： | 2017-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN107947969B | 公开（公告）日： | 2021-05-07 |
| 发明（设计）人： | 邓鹏杰;刘强 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | H04L12/24 | 分类号： | H04L12/24;H04L9/00 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 刘子文 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明本发明公开了基于信息熵的集成电路抗故障注入攻击安全评估方法，使用信息熵表征在故障注入下泄露的信息量，作为电路安全性评估的量化指标。步骤如下：(1)确定待测密码电路，指定故障模型；(2)根据待测电路和故障模型，计算该故障模型对电路造成的理论信息泄露量；(3)生成符合故障模型的故障值；(4)将生成的故障值注入待测电路中，得到故障条件下的错误输出；(5)根据实际注入的故障值和故障条件下的错误输出，计算实际故障注入所得到的实测信息泄露量；(6)根据步骤(2)得到的理论信息泄露量与步骤(5)得到的实测信息泄露量，计算得到安全系数r，将r与预先设定的安全评估等级进行比较，得到对电路的安全等级评估。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 信息 集成电路 故障 注入 攻击 安全 评估 方法 | ||
【主权项】：
基于信息熵的集成电路抗故障注入攻击安全评估方法，其特征在于，通过故障注入的方式，计算在该故障模型下电路所泄露的信息，通过泄露的信息量作为评价指标，对集成电路的安全进行评估，具体包括以下步骤：(1)确定待测密码电路，指定故障模型；(2)根据待测电路和故障模型，计算该故障模型对电路造成的理论信息泄露量；(3)生成符合故障模型的故障值；(4)将生成的故障值注入至待测电路中，得到故障条件下的错误输出；(5)根据实际注入的故障值和故障条件下的错误输出，计算实际故障注入所得到的实测信息泄露量；(6)根据步骤(2)得到的理论信息泄露量与步骤(5)得到的实测信息泄露量，计算得到安全系数r，将r与预先设定的安全评估等级进行比较，得到对电路的安全等级评估。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津大学，未经天津大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201711129019.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 信息记录介质、信息记录方法、信息记录设备、信息再现方法和信息再现设备
- 信息记录装置、信息记录方法、信息记录介质、信息复制装置和信息复制方法
- 信息记录装置、信息再现装置、信息记录方法、信息再现方法、信息记录程序、信息再现程序、以及信息记录介质
- 信息记录装置、信息再现装置、信息记录方法、信息再现方法、信息记录程序、信息再现程序、以及信息记录介质
- 信息记录设备、信息重放设备、信息记录方法、信息重放方法、以及信息记录介质
- 信息存储介质、信息记录方法、信息重放方法、信息记录设备、以及信息重放设备
- 信息存储介质、信息记录方法、信息回放方法、信息记录设备和信息回放设备
- 信息记录介质、信息记录方法、信息记录装置、信息再现方法和信息再现装置
- 信息终端，信息终端的信息呈现方法和信息呈现程序
- 信息创建、信息发送方法及信息创建、信息发送装置
