[发明专利]基于信息熵的集成电路抗故障注入攻击安全评估方法有效
申请号: | 201711129019.6 | 申请日: | 2017-11-15 |
公开(公告)号: | CN107947969B | 公开(公告)日: | 2021-05-07 |
发明(设计)人: | 邓鹏杰;刘强 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | H04L12/24 | 分类号: | H04L12/24;H04L9/00 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 刘子文 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 信息 集成电路 故障 注入 攻击 安全 评估 方法 | ||
1.基于信息熵的集成电路抗故障注入攻击安全评估方法,其特征在于,通过故障注入的方式,计算在故障模型下待测密码电路所泄露的信息,通过泄露的信息量作为评价指标,对待测密码电路的安全进行评估,具体包括以下步骤:
(1)确定待测密码电路,指定故障模型;
(2)根据待测密码电路和故障模型,计算故障模型对待测密码电路造成的理论信息泄露量;
(3)生成符合故障模型的故障值;
(4)将生成的故障值注入至待测密码电路中,得到故障条件下的错误输出;
(5)根据实际注入的故障值和故障条件下的错误输出,计算实际故障注入所得到的实测信息泄露量;
(6)根据步骤(2)得到的理论信息泄露量与步骤(5)得到的实测信息泄露量,计算得到安全系数r,将r与预先设定的安全评估等级进行比较,得到对待测密码电路的安全等级评估。
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