[发明专利]基于基因算法的集成电路抗故障攻击能力评估方法在审
| 申请号： | 201711129016.2 | 申请日： | 2017-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN108021975A | 公开（公告）日： | 2018-05-11 |
| 发明（设计）人： | 邓鹏杰;刘强 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G06N3/00 | 分类号： | G06N3/00 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 刘子文 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了基于基因算法的集成电路抗故障攻击能力评估方法，具体步骤如下：(1)对故障列表里的故障f，随机生成预设种群大小数目的输入向量，形成基因算法的初始化种群；(2)对于种群中的每个个体计算个体适应度；(3)从种群中选出适应度为1的个体，执行遗传算子，得到新的种群；(4)判断是否满足终止条件，若不满足，重复执行步骤(2)‑(4)；(5)根据当前种群中满足条件的个体数目，计算故障f的攻击成功率；(6)针对故障列表中的所有故障，执行步骤(2)‑(6)得到集成电路对每一个故障的防护能力，故障的攻击成功率越高，电路对该故障的防护能力越弱。该方法能够使用较少的输入数据，得到比较准确的评估结果。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 基因 算法 集成电路 故障 攻击 能力 评估 方法 | ||
【主权项】：
1.基于基因算法的集成电路抗故障攻击能力评估方法，其特征在于，使用基因算法，对于每一个可能的故障，寻找对输出造成影响的输入数据集合，计算故障的攻击成功率，具体步骤如下：(1)对故障列表里的故障f，随机生成预设种群大小数目的输入向量，形成基因算法的初始化种群；(2)对于种群中的每一个个体，由适应度函数，计算个体适应度；所述适应度函数即为输入向量在故障f下能否对输出结果产生影响；(3)从种群中选出适应度为1的个体，执行遗传算子，得到新的种群；(4)判断是否满足终止条件，若不满足，重复执行步骤(2)-(4)；(5)根据当前种群中满足条件的个体数目，计算故障f的攻击成功率；(6)针对故障列表中的所有故障，执行步骤(2)-(6)得到对于所有故障的攻击成功率，从而得到集成电路对每一个故障的防护能力，故障的攻击成功率越高，电路对该故障的防护能力越弱。
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