[发明专利]基于基因算法的集成电路抗故障攻击能力评估方法

权利要求书

1.基于基因算法的集成电路抗故障攻击能力评估方法，其特征在于，使用基因算法，对于每一个可能的故障，寻找对输出造成影响的输入数据集合，计算故障的攻击成功率，具体步骤如下：

(1)对故障列表里的故障f，随机生成预设种群大小数目的输入向量，形成基因算法的初始化种群；

(2)对于种群中的每一个个体，由适应度函数，计算个体适应度；所述适应度函数即为输入向量在故障f下能否对输出结果产生影响；

(3)从种群中选出适应度为1的个体，执行遗传算子，得到新的种群；

(4)判断是否满足终止条件，若不满足，重复执行步骤(2)-(4)；

(5)根据当前种群中满足条件的个体数目，计算故障f的攻击成功率；

(6)针对故障列表中的所有故障，执行步骤(2)-(6)得到对于所有故障的攻击成功率，从而得到集成电路对每一个故障的防护能力，故障的攻击成功率越高，电路对该故障的防护能力越弱。

2.根据权利要求1所述基于基因算法的集成电路抗故障攻击能力评估方法，其特征在于，所述输入向量包括待评估电路、故障列表及基因算法的种群大小、交叉概率和变异概率。

3.根据权利要求1所述基于基因算法的集成电路抗故障攻击能力评估方法，其特征在于，步骤(2)中计算个体适应度的步骤为：将作为种群个体的输入向量输入到待评估电路中，并向电路注入故障f，若输出结果为错误的，则该个体的适应度为1，否则为0。