[发明专利]一种适用于任意平面阵列的测向精度分析方法有效
| 申请号： | 201711107929.4 | 申请日： | 2017-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN107870290B | 公开（公告）日： | 2019-10-11 |
| 发明（设计）人： | 刘青;邓军波;朱明晓;王彦博;张冠军;郭安祥;刘孝为 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学;国家电网公司;国网陕西省电力公司电力科学研究院 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12;G01S3/00 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 闵岳峰 |
| 地址： | 710049 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种适用于任意平面阵列的测向精度分析方法，包括：对任意平面阵列建立坐标系，令阵列的几何中心位于坐标原点处；用克拉美罗下界评估阵列的测向精度，需首先根据各天线的坐标计算三个重要参数：幅值、直流偏移和初相；列出克拉美罗下界关于真实方位角、真实俯仰角的函数表达式，据此绘制克拉美罗下界关于真实方位角和真实俯仰角的关系曲线，若在某个真实方位角、真实俯仰角的范围内克拉美罗下界相对较小，则该处测向精度相对较高。本发明提出了一种适用于任意平面阵列的测向精度分析方法，对变电站内任意应用条件均适用，对优化布置天线阵列具有指导作用。通过该方法优化的天线阵列，具有较高的测向性能，以及较小的阵列尺寸。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 适用于 任意 平面 阵列 测向 精度 分析 方法 | ||
【主权项】：
1.一种适用于任意平面阵列的测向精度分析方法，其特征在于，包括如下步骤：1)对任意平面阵列建立坐标系，令该平面阵列的几何中心位于坐标原点处；2)用克拉美罗下界评估该平面阵列的测向精度，需首先根据各天线的坐标计算三个重要参数：幅值、直流偏移和初相；3)列出克拉美罗下界关于真实方位角、真实俯仰角的函数表达式，据此绘制克拉美罗下界关于真实方位角和真实俯仰角的关系曲线，若在某个真实方位角、真实俯仰角的范围内克拉美罗下界相对较小，则该处测向精度相对较高。
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