[发明专利]一种适用于任意平面阵列的测向精度分析方法

权利要求书

1.一种适用于任意平面阵列的测向精度分析方法，其特征在于，包括如下步骤：

1)对任意平面阵列建立坐标系，令该平面阵列的几何中心位于坐标原点处；

2)用克拉美罗下界评估该平面阵列的测向精度，需首先根据各天线的坐标计算三个重要参数：幅值、直流偏移和初相；

3)列出克拉美罗下界关于真实方位角、真实俯仰角的函数表达式，据此绘制克拉美罗下界关于真实方位角和真实俯仰角的关系曲线，若在某个真实方位角、真实俯仰角的范围内克拉美罗下界相对较小，则该处测向精度相对较高。

2.根据权利要求1所述的一种适用于任意平面阵列的测向精度分析方法，其特征在于，步骤1)中所述任意平面阵列是在平面上任意布置的包含N个阵元的平面阵列，阵元为特高频天线。

3.根据权利要求2所述的一种适用于任意平面阵列的测向精度分析方法，其特征在于，步骤1)中，该平面阵列的几何中心的阵元坐标(x₀，y₀)的计算公式如下

式中，x_i和y_i分别是第i个阵元的横坐标和纵坐标，i＝1…N，N为阵元数目。

4.根据权利要求1所述的一种适用于任意平面阵列的测向精度分析方法，其特征在于，步骤2)中，克拉美罗下界即测向系统所能达到的最小测向误差，其能够将测向精度量化，且克拉美罗下界数值越小，测向精度越高。

5.根据权利要求3所述的一种适用于任意平面阵列的测向精度分析方法，其特征在于，步骤2)中，幅值A、直流偏移B和初相γ的定义如下式：

6.根据权利要求5所述的一种适用于任意平面阵列的测向精度分析方法，其特征在于，步骤3)中，克拉美罗下界关于真实方位角和真实俯仰角的函数表达式，包含方位角的克拉美罗下界χ₁(θ，φ)和俯仰角的克拉美罗下界χ₂(θ，φ)关于真实方位角θ和真实俯仰角φ的函数表达式，如下式：

7.根据权利要求6所述的一种适用于任意平面阵列的测向精度分析方法，其特征在于，步骤3)中，绘制克拉美罗下界关于真实方位角和真实俯仰角的关系曲线，共包含四条关系曲线，即方位角的克拉美罗下界关于真实方位角的关系曲线、方位角的克拉美罗下界关于真实俯仰角的关系曲线、俯仰角的克拉美罗下界关于真实方位角的关系曲线以及俯仰角的克拉美罗下界关于真实俯仰角的关系曲线。